[实用新型]一种芯片测试装置有效

专利信息
申请号: 201821792106.X 申请日: 2018-11-01
公开(公告)号: CN209542773U 公开(公告)日: 2019-10-25
发明(设计)人: 刘方远;林爱军;闫骏驰 申请(专利权)人: 南京天易合芯电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 吴海燕
地址: 210000 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种芯片测试装置,芯片测试板上安装有芯片测试底座,芯片通过芯片测试底座将引脚引出,微控制器通过芯片测试底座连接芯片各引脚;芯片测试板上还包括电源电路、OSC频率放大电路、分频器电路、AD转换电路、SD卡存储电路、TFT彩屏显示电路。针对不同封装的芯片,只需要制作新的芯片测试底座即可对芯片进行测试。本实用新型的芯片测试装置,调试周期短,只需要一个月左右,针对不同封装的芯片,只需要制作新的测试夹具即可,针对年产量在500万以下的产品,测试成本低。
搜索关键词: 芯片测试 芯片 芯片测试装置 底座 本实用新型 芯片测试板 引脚 封装 频率放大电路 分频器电路 测试成本 测试夹具 底座连接 电源电路 微控制器 显示电路 制作 调试 测试
【主权项】:
1.一种芯片测试装置,其特征在于,包括芯片测试板、芯片测试底座、微控制器;芯片测试板上安装有芯片测试底座,芯片通过芯片测试底座将引脚引出,微控制器通过芯片测试底座连接芯片各引脚;芯片测试板上还包括电源电路、OSC频率放大电路、分频器电路、AD转换电路、SD卡存储电路、TFT彩屏显示电路;芯片通过芯片测试底座连接到OSC频率放大电路,再连接到分频器电路,分频器电路连接到微控制器;芯片通过芯片测试底座连接到AD转换电路,再连接到微控制器;微控制器同时连接SD卡存储电路和TFT彩屏显示电路;电源电路给各个电路供电。
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