[实用新型]一种芯片测试装置有效
| 申请号： | 201821792106.X | 申请日： | 2018-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN209542773U | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 刘方远;林爱军;闫骏驰 | 申请（专利权）人： | 南京天易合芯电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 吴海燕 |
| 地址： | 210000 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片测试 芯片 芯片测试装置 底座 本实用新型 芯片测试板 引脚 封装 频率放大电路 分频器电路 测试成本 测试夹具 底座连接 电源电路 微控制器 显示电路 制作 调试 测试 | ||
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括芯片测试板、芯片测试底座、微控制器；芯片测试板上安装有芯片测试底座，芯片通过芯片测试底座将引脚引出，微控制器通过芯片测试底座连接芯片各引脚；
芯片测试板上还包括电源电路、OSC频率放大电路、分频器电路、AD转换电路、SD卡存储电路、TFT彩屏显示电路；芯片通过芯片测试底座连接到OSC频率放大电路，再连接到分频器电路，分频器电路连接到微控制器；芯片通过芯片测试底座连接到AD转换电路，再连接到微控制器；微控制器同时连接SD卡存储电路和TFT彩屏显示电路；电源电路给各个电路供电。
2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，芯片通过芯片测试底座连接到OSC频率放大电路，芯片内部OSC频率输出经放大后再连接到分频器电路，将OSC频率分频到十几KHz，同时将三角波转变成方波，再连接微控制器对芯片内部OSC频率进行采集。
3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，芯片通过芯片测试底座连接到AD转换电路，芯片内部的LED驱动电流和待机电流流过电路中的电阻，转变成电压，AD转换电路采集电压，从而测量出芯片内部的LED驱动电流和待机电流的电流大小。
4.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：所述OSC频率放大电路包括放大芯片，所述放大芯片的2脚通过电阻R1接地，2脚同时通过电阻R2连接6脚，6脚通过电容C4接地，4脚直接接地，3脚通过电阻R3和电容C1接地，7脚接5V电压，同时通过电容C2和电容C3并联后接地。
5.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：所述AD转换电路包括AD转换器，AD转换器的1脚接3.3V电压，同时通过电容C1和电容C2并联后接地；2脚和3脚同时接地，5脚通过电容C3连接6脚；9脚、11脚和12脚同时接地；10脚和13脚接5.3V电压，同时通过电容C4和电容C5并联后接地。
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