[实用新型]一种芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片测试装置，芯片测试板上安装有芯片测试底座，芯片通过芯片测试底座将引脚引出，微控制器通过芯片测试底座连接芯片各引脚；芯片测试板上还包括电源电路、OSC频率放大电路、分频器电路、AD转换电路、SD卡存储电路、TFT彩屏显示电路。针对不同封装的芯片，只需要制作新的芯片测试底座即可对芯片进行测试。本实用新型的芯片测试装置，调试周期短，只需要一个月左右，针对不同封装的芯片，只需要制作新的测试夹具即可，针对年产量在500万以下的产品，测试成本低。

技术领域

本实用新型属于芯片测试领域，尤其涉及一种芯片测试装置。

背景技术

半导体行业发展迅速，芯片测试是芯片应用前的必须经过的一个环节，芯片测试以追求可靠、低成本、高效率为目标。目前工厂里测试传感器的机器大多是国外生产的大型测试机台，这种机台在测试芯片之前，需要调试6～10个月才能实现准确测试芯片；调试周期长，当前消费类电子上面传感器更新速率快。每种芯片需要制作专属的导轴、振盘、吸嘴，这些特制的配件只能用于一种芯片，如果芯片更换了封装，那么需要重新制作这些配件，代价昂贵。调试测试成本高，对于年出货量少于500万片的产品来说成本高。

实用新型内容

发明目的：针对以上问题，本实用新型提出一种芯片测试装置，调试周期短，只需要一个月左右，针对不同封装的芯片，只需要制作新的测试夹具即可，针对年产量在500万以下的产品，测试成本低。

技术方案：为实现上述设计目的，本实用新型所采用的技术方案是：一种芯片测试装置，包括芯片测试板、芯片测试底座、微控制器；芯片测试板上安装有芯片测试底座，芯片通过芯片测试底座将引脚引出，微控制器通过芯片测试底座连接芯片各引脚；芯片测试板上还包括电源电路、OSC频率放大电路、分频器电路、AD转换电路、SD卡存储电路、TFT彩屏显示电路；芯片通过芯片测试底座连接到OSC频率放大电路，再连接到分频器电路，分频器电路连接到微控制器；芯片通过芯片测试底座连接到AD转换电路，再连接到微控制器；微控制器同时连接SD卡存储电路和TFT彩屏显示电路；电源电路给各个电路供电。

进一步地，芯片通过芯片测试底座连接到OSC频率放大电路，芯片内部OSC频率输出经放大后再连接到分频器电路，将OSC频率分频到十几KHz，同时将三角波转变成方波，再连接微控制器对芯片内部OSC频率进行采集。

进一步地，芯片通过芯片测试底座连接到AD转换电路，芯片内部的LED驱动电流和待机电流流过电路中的电阻，转变成电压，AD转换电路采集电压，从而测量出芯片内部的LED驱动电流和待机电流的电流大小。

进一步地，所述OSC频率放大电路包括放大芯片，所述放大芯片的2脚通过电阻R1接地，2脚同时通过电阻R2连接6脚，6脚通过电容C4接地，4脚直接接地，3脚通过电阻R3和电容C1接地，7脚接5V电压，同时通过电容C2和电容C3并联后接地。

进一步地，所述AD转换电路包括AD转换器，AD转换器的1脚接3.3V电压，同时通过电容C1和电容C2并联后接地；2脚和3脚同时接地，5脚通过电容C3连接6脚；9脚、11脚和12脚同时接地；10脚和13脚接5.3V电压，同时通过电容C4和电容C5并联后接地。

有益效果：本实用新型的芯片测试装置及方法，调试周期短，只需要一个月左右，针对不同封装的芯片，只需要制作新的测试夹具即可，针对年产量在500万以下的产品，测试成本低。

附图说明

图1是本实用新型的芯片测试装置示意图；

图2是OSC频率放大电路的电路图；

图3是AD转换电路的电路图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型的技术方案作进一步的说明。