[实用新型]一种芯片测试装置有效

专利信息
申请号: 201821711318.0 申请日: 2018-10-22
公开(公告)号: CN208999534U 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 蒋卫兵;顾培东 申请(专利权)人: 上海捷策创电子科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/02
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 胡彬
地址: 201203 上海市浦东新区中国(上海)自*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种芯片测试装置,包括固定座、保持板、弹簧探针、绝缘环和导向件,其中固定座上开设有若干个第一通孔;保持板固定于固定座的底部,保持板上开设有若干个与第一通孔同轴的第二通孔;弹簧探针穿设于第一通孔和第二通孔内;绝缘环分别设置于第一通孔的上端和第二通孔的下端,绝缘环能够将弹簧探针的端部套设于其内;导向件设置于固定座的上方,导向件用于固定待测芯片,导向件上开设有若干透气通道。本实用新型提供的芯片测试装置,有效减少了电信号在传输过程中的损耗,提高了装置的散热性能,满足了高频和高速的测试需求。
搜索关键词: 通孔 导向件 固定座 芯片测试装置 弹簧探针 绝缘环 本实用新型 测试需求 传输过程 待测芯片 散热性能 透气通道 芯片测试 有效减少 板固定 端部套 上端 穿设 同轴 下端
【主权项】:
1.一种芯片测试装置,其特征在于,包括:固定座(1),所述固定座(1)上开设有若干个第一通孔(11);保持板(2),所述保持板(2)固定于所述固定座(1)的底部,所述保持板(2)上开设有若干个与所述第一通孔(11)同轴的第二通孔(21);弹簧探针(3),所述弹簧探针(3)穿设于所述第一通孔(11)和所述第二通孔(21)内;绝缘环(4),所述绝缘环(4)分别设置于所述第一通孔(11)的上端和所述第二通孔(21)的下端,所述绝缘环(4)能够将所述弹簧探针(3)的端部套设于其内;导向件(5),所述导向件(5)设置于所述固定座(1)的上方,所述导向件(5)用于固定待测芯片(100),所述导向件(5)上开设有若干透气通道。
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