[实用新型]一种芯片测试装置

说明书

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试装置，包括固定座、保持板、弹簧探针、绝缘环和导向件，其中固定座上开设有若干个第一通孔；保持板固定于固定座的底部，保持板上开设有若干个与第一通孔同轴的第二通孔；弹簧探针穿设于第一通孔和第二通孔内；绝缘环分别设置于第一通孔的上端和第二通孔的下端，绝缘环能够将弹簧探针的端部套设于其内；导向件设置于固定座的上方，导向件用于固定待测芯片，导向件上开设有若干透气通道。本实用新型提供的芯片测试装置，有效减少了电信号在传输过程中的损耗，提高了装置的散热性能，满足了高频和高速的测试需求。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试装置。

背景技术

随着芯片核心运算速度的不断提高，对芯片测试装置的要求也越来越高，需要芯片测试装置能够满足高频和高速测试的需求。现有的芯片测试装置一般包括带有探针孔的金属型导向板、固定座和保持板以及弹簧探针，并将弹簧探针直接设置在探针孔内，但是此种测试装置一般不能满足高频和高速的测试需求。

首先，为了避免传输信号的弹簧探针与探针孔的孔壁发生接触而导致短路，通常在金属型导向板、固定座和保持板的探针孔的孔壁上全部涂覆上绝缘材料，而大面积的绝缘材料会使电信号在传输过程中大量损耗，严重影响电信号在传输过程中的完整性，从而使装置不能满足高频和高速的测试要求；其次，现有的芯片测试装置中的弹簧探针容易发生晃动和偏离探针孔的中心轴线，不仅导致了装置的电抗不可控，而且导致了弹簧探针的输入端和输出端的电抗不匹配，增加了测试过程中的电损耗，影响了装置高频和高速传输的性能；最后，现有的芯片测试装置散热性能差，导致了装置测试速度的下降。

实用新型内容

基于以上所述，本实用新型的目的在于提供一种芯片测试装置，以解决现有芯片测试装置不能满足高频和高速的测试要求的技术问题。

为达上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种芯片测试装置，包括：

固定座，所述固定座上开设有若干个第一通孔；

保持板，所述保持板固定于所述固定座的底部，所述保持板上开设有若干个与所述第一通孔同轴的第二通孔；

弹簧探针，所述弹簧探针穿设于所述第一通孔和所述第二通孔内；

绝缘环，所述绝缘环分别设置于所述第一通孔的上端和所述第二通孔的下端，所述绝缘环能够将所述弹簧探针的端部套设于其内；

导向件，所述导向件设置于所述固定座的上方，所述导向件用于固定待测芯片，所述导向件上开设有若干透气通道。

进一步地，所述第一通孔的上端和所述第二通孔的下端均为台阶孔，所述绝缘环设置于所述台阶孔内。

进一步地，所述绝缘环包括限位部和固定部，所述限位部外侧壁的直径大于所述固定部外侧壁的直径，所述限位部设置于所述台阶孔的大直径孔内，所述固定部卡设于所述台阶孔的小直径孔内。

进一步地，所述绝缘环通过胶水粘接于所述第一通孔和所述第二通孔内。

进一步地，所述导向件包括导向框和导向板，所述导向板可拆卸地设置于所述导向框内，所述导向框的每个侧壁上均开设有第一透气孔，所述导向板的每个侧壁上均开设有与所述第一透气孔相配合的第二透气孔，所述第一透气孔与所述第二透气孔组合形成所述透气通道。

进一步地，所述导向板上设置有芯片槽，所述芯片槽用于放置所述待测芯片。

进一步地，还包括底板，所述固定座和所述导向件均可拆卸地固定于所述底板上。

进一步地，所述底板上设置有凹槽，所述凹槽的角部开设有第三透气孔。