[实用新型]带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备有效
| 申请号： | 201821632328.5 | 申请日： | 2018-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN208847453U | 公开（公告）日： | 2019-05-10 |
| 发明（设计）人： | 芮晓光;陈洁;任芸丹;余力;夏玉兰;杨芳 | 申请（专利权）人： | 苏州市职业大学 |
| 主分类号： | G01M11/04 | 分类号： | G01M11/04 |
| 代理公司： | 苏州谨和知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32295 | 代理人： | 叶栋 |
| 地址： | 215104 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备，属于光学芯片测试技术领域，所述测试设备包括用于放置光学芯片的旋转工作台、用于覆盖所述光学芯片的测试基座上盖组合、用于带动所述测试基座上盖组合升降的上盖升降机构、以及用于在所述旋转工作台上平移所述光学芯片的平移机构；所述旋转工作台安装有至少一个测试基座底座组合，每个所述测试基座底座组合用于放置至少一个所述光学芯片；可以解决使用手动测试翻盖式插座来测试光学芯片时测试效率低、且易损伤光学芯片及探针的问题；可以保证测试单元的持续作业，同时为操作人员提供了充足的装卸及判定产品品质并处理的时间；提高生产效率的同时，还提供了良好的环境适应性。 | ||
| 搜索关键词： | 光学芯片 测试基座 测试设备 上盖 旋转平移 多工位 底座 测试技术领域 翻盖式插座 环境适应性 旋转工作台 平移 测试单元 测试光学 测试效率 产品品质 平移机构 生产效率 升降机构 手动测试 探针 判定 升降 装卸 损伤 芯片 覆盖 申请 保证 | ||
【主权项】：
1.一种带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备，其特征在于，所述测试设备包括用于放置光学芯片的旋转工作台、用于覆盖所述光学芯片的测试基座上盖组合、用于带动所述测试基座上盖组合升降的上盖升降机构、以及用于在所述旋转工作台上平移所述光学芯片的平移机构；所述旋转工作台安装有至少一个测试基座底座组合，每个所述测试基座底座组合用于放置至少一个所述光学芯片。
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