[实用新型]带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备有效
| 申请号： | 201821632328.5 | 申请日： | 2018-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN208847453U | 公开（公告）日： | 2019-05-10 |
| 发明（设计）人： | 芮晓光;陈洁;任芸丹;余力;夏玉兰;杨芳 | 申请（专利权）人： | 苏州市职业大学 |
| 主分类号： | G01M11/04 | 分类号： | G01M11/04 |
| 代理公司： | 苏州谨和知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32295 | 代理人： | 叶栋 |
| 地址： | 215104 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学芯片 测试基座 测试设备 上盖 旋转平移 多工位 底座 测试技术领域 翻盖式插座 环境适应性 旋转工作台 平移 测试单元 测试光学 测试效率 产品品质 平移机构 生产效率 升降机构 手动测试 探针 判定 升降 装卸 损伤 芯片 覆盖 申请 保证 | ||
1.一种带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备，其特征在于，所述测试设备包括用于放置光学芯片的旋转工作台、用于覆盖所述光学芯片的测试基座上盖组合、用于带动所述测试基座上盖组合升降的上盖升降机构、以及用于在所述旋转工作台上平移所述光学芯片的平移机构；所述旋转工作台安装有至少一个测试基座底座组合，每个所述测试基座底座组合用于放置至少一个所述光学芯片。
2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述旋转工作台包括位于所述测试基座上盖组合下方的测试工作台、以及在所述旋转工作台上与所述测试工作台互为中心对称的装卸工作台。
3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述测试工作台和所述装卸工作台均包括预设数量的测试基座底座组合，每个所述测试基座底座组合包括PCB板、位于所述PCB板之上的测试基座，所述测试基座包括至少一个用于放置所述光学芯片的凹槽。
4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述预设数量大于或等于2，所述测试工作台中的测试基座底座组合包括位于所述测试基座上盖组合正下方的测试工位和除所述测试工位之外的测试等待工位。
5.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述测试工作台和所述装卸工作台均设置有所述平移机构，所述平移机构用于带动所述测试工作台和所述装卸工作台中的测试基座底座组合在水平方向上平移。
6.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括位于所述旋转工作台下方的旋转支撑机构、以及与所述旋转支撑机构相连且用于带动所述旋转工作台中心轴线旋转的旋转机构。
7.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试基座上盖组合包括压力表、导向销和灯箱。
8.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述旋转工作台中与所述测试基座上盖组合相对的位置包括探针和带动所述探针升降的探针升降机构，在所述探针升降机构带动所述探针与所述测试基座底座组合中的PCB板接触时，所述测试设备的测试电路接通，对所述测试基座底座组合上的光学芯片进行测试。
9.根据权利要求1至8任一所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括旋转按钮，所述旋转按钮被触发时所述旋转工作台绕中心轴线旋转180度。
10.根据权利要求1至8任一所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括显示器，所述显示器用于显示所述光学芯片的测试结果。
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