[实用新型]带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备

说明书

本申请涉及一种带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备，属于光学芯片测试技术领域，所述测试设备包括用于放置光学芯片的旋转工作台、用于覆盖所述光学芯片的测试基座上盖组合、用于带动所述测试基座上盖组合升降的上盖升降机构、以及用于在所述旋转工作台上平移所述光学芯片的平移机构；所述旋转工作台安装有至少一个测试基座底座组合，每个所述测试基座底座组合用于放置至少一个所述光学芯片；可以解决使用手动测试翻盖式插座来测试光学芯片时测试效率低、且易损伤光学芯片及探针的问题；可以保证测试单元的持续作业，同时为操作人员提供了充足的装卸及判定产品品质并处理的时间；提高生产效率的同时，还提供了良好的环境适应性。

技术领域

本实用新型涉及带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备，属于光学芯片测试技术领域。

背景技术

光学摄像光学芯片CMOS图像传感器(CMOS Image Sensor，CIS)及其摄像模组互补金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS)，广泛应用于工业，医疗和消费等领域。伴随着终端用户对图像处理的要求，以及高像素图像采集和分析技术的发展，该产品在很多领域逐步替代了原始的玻璃光学镜头。由于高像素光学芯片产品质量涉及到每一个终端用户，因此，每颗光学芯片及模组都必须进行功能及可靠性测试。

现有的光学芯片测试设备通常为手动测试翻盖式插座。然而，该结构关闭需要测试人员人工压和，打开需要人工拨动卡扣，光学芯片测试效率较低；另外，由于测试设备为翻盖结构，闭合时的滑动容易损伤光学芯片及测试设备中的探针。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备，可以解决光学芯片的测试效率较低且测试过程中易损坏的问题，为达到上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

所述测试设备包括用于放置光学芯片的旋转工作台、用于覆盖所述光学芯片的测试基座上盖组合、用于带动所述测试基座上盖组合升降的上盖升降机构、以及用于在所述旋转工作台上平移所述光学芯片的平移机构；所述旋转工作台安装有至少一个测试基座底座组合，每个所述测试基座底座组合用于放置至少一个所述光学芯片。

可选地，所述旋转工作台包括位于所述测试基座上盖组合下方的测试工作台、以及在所述旋转工作台上与所述测试工作台互为中心对称的所述装卸工作台。

可选地，所述测试工作台和所述装卸工作台均包括预设数量的测试基座底座组合，每个所述测试基座底座组合包括PCB板、位于所述PCB板之上的测试基座，所述测试基座包括至少一个用于放置所述光学芯片的凹槽。

可选地，所述预设数量大于或等于2，所述测试工作台中的测试基座底座组合包括位于所述测试基座上盖组合正下方的测试工位和除所述测试工位之外的测试等待工位。

可选地，所述测试工作台和所述装卸工作台均设置有所述平移机构，所述平移机构用于带动所述测试工作台和所述装卸工作台中的测试基座底座组合在水平方向上平移。

可选地，所述测试设备还包括位于所述旋转工作台下方的旋转支撑机构、以及与所述旋转支撑机构相连且用于带动所述旋转工作台中心轴线旋转的旋转机构。

可选地，所述测试基座上盖组合包括压力表、导向销和灯箱。

可选地，所述旋转工作台中与所述测试基座上盖组合相对的位置包括探针和带动所述探针升降的探针升降机构，在所述探针升降机构带动所述探针与所述测试基座底座组合中的PCB板接触时，所述测试设备的测试电路接通，对所述测试基座底座组合上的光学芯片进行测试。

可选地，所述测试设备还包括旋转按钮，所述旋转按钮被触发时所述旋转工作台绕中心轴线旋转180度。

可选地，所述测试设备还包括显示器，所述显示器用于显示所述光学芯片的测试结果。