[实用新型]芯片电路测试装置及测试系统

摘要

本实用新型提供一种芯片电路测试装置及测试系统。所述装置包括测试板、测试机及设置在测试板上的测试座。测试座的承载板上设置有第一电路通道，其中，第一电路通道的数量与待测试芯片的电路通道的数量相同。测试板的电路区域内设置有第二电路通道，电路区域的形状与承载板的形状匹配。测试机包括第三电路通道，第三电路通道的数量与第二电路通道的数量相同，第一电路通道、第二电路通道及第三电路通道依次电性连接，待测试芯片放置在承载板上时经过第一电路通道、第二电路通道及第三电路通道与测试机连通以进行测试。在测试不同尺寸、不同管脚的待测试芯片时，只需要选择与待测试芯片对应的承载板即可，可大大降低成本，并且使用方便。

主权项

1.一种芯片电路测试装置，其特征在于，所述装置包括测试座、测试板及测试机，所述测试座设置在所述测试板上；所述测试座包括承载板，所述承载板上设置有第一电路通道，其中，所述第一电路通道的数量与待测试芯片的电路通道的数量相同；所述测试板包括电路区域，所述电路区域内设置有第二电路通道，所述电路区域的形状与所述承载板的形状匹配；所述测试机包括第三电路通道，所述第三电路通道的数量与所述第二电路通道的数量相同，所述第一电路通道、所述第二电路通道及所述第三电路通道依次电性连接，所述待测试芯片放置在所述承载板上时经过所述第一电路通道、所述第二电路通道及所述第三电路通道与所述测试机连通以进行测试。