[实用新型]芯片电路测试装置及测试系统有效
| 申请号： | 201821268239.7 | 申请日： | 2018-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN208459554U | 公开（公告）日： | 2019-02-01 |
| 发明（设计）人： | 许祖伟;向俊伍;赵永青;傅磊 | 申请（专利权）人： | 甬矽电子(宁波)股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 黄彩荣 |
| 地址： | 315400 浙江省宁*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电路通道 待测试芯片 承载板 测试板 测试机 测试系统 测试装置 电路区域 芯片电路 测试座 依次电性连接 本实用新型 测试 形状匹配 管脚 连通 | ||
1.一种芯片电路测试装置，其特征在于，所述装置包括测试座、测试板及测试机，所述测试座设置在所述测试板上；
所述测试座包括承载板，所述承载板上设置有第一电路通道，其中，所述第一电路通道的数量与待测试芯片的电路通道的数量相同；
所述测试板包括电路区域，所述电路区域内设置有第二电路通道，所述电路区域的形状与所述承载板的形状匹配；
所述测试机包括第三电路通道，所述第三电路通道的数量与所述第二电路通道的数量相同，所述第一电路通道、所述第二电路通道及所述第三电路通道依次电性连接，所述待测试芯片放置在所述承载板上时经过所述第一电路通道、所述第二电路通道及所述第三电路通道与所述测试机连通以进行测试。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试座还包括底座；
所述底座设置在所述测试板上，所述底座用于固定所述承载板。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述承载板与所述底座可拆卸连接。
4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置还包括连接件，所述测试板还包括非电路区域，所述非电路区域环绕所述电路区域设置；
所述底座通过所述连接件设置在所述测试板上，所述连接件与所述测试板的所述非电路区域接触。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述连接件包括固定螺丝。
6.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述底座包括四条依次首尾连接的边框以形成用于安装所述承载板的安装空间，所述承载板及所述电路区域与所述第三电路通道所在区域重合。
7.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置还包括测试盖；
所述测试盖用于设置在所述底座上与所述测试座配合，以固定所述待测试芯片。
8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述承载板上还设置有连接部；
所述第一电路通道通过所述连接部与待测试芯片电性连接。
9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试机包括测试头；
所述第三电路通道设置在所述测试头朝向所述测试板的一侧，所述测试板的形状与所述测试头的形状匹配。
10.一种测试系统，其特征在于，所述系统包括通信连接的控制设备及权利要求1-9中任意一项所述的芯片电路测试装置，所述控制设备对所述芯片电路测试装置进行控制，以通过所述芯片电路测试装置对所述待测试芯片进行开短路测试。
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