[实用新型]一种测试半导体器件的截止电流的装置有效
| 申请号： | 201820819673.3 | 申请日： | 2018-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN208367157U | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | 黎莎;喻贵忠 | 申请（专利权）人： | 北京铁道工程机电技术研究所股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100070 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例公开了一种测试半导体器件的截止电流的装置。其中，该测试半导体器件的截止电流的装置包括：电压源，与被测半导体器件电连接，用于每隔第一预设时间段向被测半导体器件输出一呈第一预设波形变化的第一电压段；峰值点检测电路，与电压源电连接，用于当检测到电压源输出电压为第一电压段的峰值电压时，输出采样触发信号；采样电路，与峰值点检测电路电连接，用于当接收到采样触发信号时，采样被测半导体器件当前的第一电流，将其作为被测半导体器件的截止电流。本实用新型实施例的技术方案可以降低测试过程中施加到被测半导体器件上的电压的有效时长，从而降低被测半导体器件的PN结产生的附加热，进而提高测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 截止电流 测试半导体器件 本实用新型 峰值点检测 电压源输出电压 采样触发信号 电路电连接 预设时间段 波形变化 采样电路 测试过程 触发信号 电压源电 峰值电压 输出采样 有效时长 电连接 电压源 采样 预设 电路 测量 施加 输出 检测 | ||
【主权项】：
1.一种测试半导体器件的截止电流的装置，其特征在于，包括：电压源，与被测半导体器件电连接，用于每隔第一预设时间段向所述被测半导体器件输出一呈第一预设波形变化的第一电压段；峰值点检测电路，与所述电压源电连接，用于当检测到所述电压源输出电压为所述第一电压段的峰值电压时，输出采样触发信号；采样电路，与所述峰值点检测电路电连接，用于当接收到所述采样触发信号时，采样所述被测半导体器件当前的第一电流，将其作为所述被测半导体器件的截止电流。
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