[实用新型]一种测试半导体器件的截止电流的装置有效
| 申请号: | 201820819673.3 | 申请日: | 2018-05-30 |
| 公开(公告)号: | CN208367157U | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
| 发明(设计)人: | 黎莎;喻贵忠 | 申请(专利权)人: | 北京铁道工程机电技术研究所股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 100070 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体器件 截止电流 测试半导体器件 本实用新型 峰值点检测 电压源输出电压 采样触发信号 电路电连接 预设时间段 波形变化 采样电路 测试过程 触发信号 电压源电 峰值电压 输出采样 有效时长 电连接 电压源 采样 预设 电路 测量 施加 输出 检测 | ||
本实用新型实施例公开了一种测试半导体器件的截止电流的装置。其中,该测试半导体器件的截止电流的装置包括:电压源,与被测半导体器件电连接,用于每隔第一预设时间段向被测半导体器件输出一呈第一预设波形变化的第一电压段;峰值点检测电路,与电压源电连接,用于当检测到电压源输出电压为第一电压段的峰值电压时,输出采样触发信号;采样电路,与峰值点检测电路电连接,用于当接收到采样触发信号时,采样被测半导体器件当前的第一电流,将其作为被测半导体器件的截止电流。本实用新型实施例的技术方案可以降低测试过程中施加到被测半导体器件上的电压的有效时长,从而降低被测半导体器件的PN结产生的附加热,进而提高测量的准确性。
技术领域
本实用新型涉及测试技术领域,尤其涉及一种测试半导体器件的截止电流的装置。
背景技术
绝缘栅双极晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT)、功率二极管、晶闸管等半导体器件作为电能变换器件,是交流传动和谐型机车和高速动车组上最重要的电气部件之一。电能变换器件工作正常与否,将直接影响铁路行车的安全。通过对电能变换器件的性能进行测试,以检验电能变换器件的合格与否。
在测试半导体器件的截止电流时,例如在测试IGBT的集电极-发射极截止电流时,将IGBT的栅极和发射极短路,在IGBT的集电极-发射极之间施加规定的电压,测量流过IGBT的集电极-发射极的阻性电流,即集电极-发射极截止电流;在测试功率二极管的截止电流时,需在功率二极管的阴极和阳极之间施加规定的反向电压,测量流过功率二极管阴极-阳极的阻性电流,即功率二极管的截止电流;在测试晶闸管的截止电流时,将晶闸管的门极和阴极短路,在晶闸管的阳极和阴极之间施加规定的电压,测量流过晶闸管阳极-阴极的阻性电流,即晶闸管阳极-阴极截止电流;其中,被测试器件的PN结从物理结构上可以等效为非线性电阻和可变电容的并联。由于在测试半导体器件的截止电流时,采用直流电源,半导体器件的PN结会长时间流过电流,随着测试过程的进行,PN结的温度会逐渐升高,由于半导体器件的特性和温度密切关联,会影响PN结等效的非线性电阻和可变电容的大小,进而影响测量结果的准确性。
实用新型内容
本实用新型实施例提供一种测试半导体器件的截止电流的装置,以降低测试过程中施加到被测半导体器件上的电压的有效时长,从而降低被测半导体器件的PN结产生的附加热,进而提高测量该被测半导体器件的截止电流的准确性。
本实用新型实施例提供了一种测试半导体器件的截止电流的装置,包括:
电压源,与被测半导体器件电连接,用于每隔第一预设时间段输出一呈第一预设波形变化的第一电压段;
峰值点检测电路,与电压源电连接,用于当检测到电压源输出电压为第一电压段的峰值电压时,输出采样触发信号;
采样电路,与峰值点检测电路电连接,用于当接收到采样触发信号时,采样被测半导体器件当前的第一电流,将其作为被测半导体器件的截止电流。
进一步地,还包括存储电路,与采样电路电连接,采样电路还用于当接收到采样触发信号时,采样被测半导体器件当前的第一电压;存储电路用于存储被测半导体器件对应的第一电流和第一电压。
进一步地,还包括显示电路,与采样电路电连接,显示电路用于显示采样电路采样到的被测半导体器件对应的第一电流和第一电压。
进一步地,电压源包括截波电路、调压器、升压变压器和半波整流电路,
其中,截波电路的输入端与外部交流电源电连接,截波电路的输出端与调压器的输入端电连接,截波电路用于将其输入端连续输入的呈第二预设波形变化的第二电压段,每截断预设个数的第二电压段后输出一个第二电压段,第二电压段包括呈第一预设波形变化的第三电压段;
调压器的输出端与升压变压器的输入端电连接,调压器还包括调节端,调节端用于调节调压器的输出端与输入端的电压的变比;
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