[实用新型]一种测试半导体器件的截止电流的装置有效

专利信息
申请号: 201820819673.3 申请日: 2018-05-30
公开(公告)号: CN208367157U 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 黎莎;喻贵忠 申请(专利权)人: 北京铁道工程机电技术研究所股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 100070 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 截止电流 测试半导体器件 本实用新型 峰值点检测 电压源输出电压 采样触发信号 电路电连接 预设时间段 波形变化 采样电路 测试过程 触发信号 电压源电 峰值电压 输出采样 有效时长 电连接 电压源 采样 预设 电路 测量 施加 输出 检测
【权利要求书】:

1.一种测试半导体器件的截止电流的装置,其特征在于,包括:

电压源,与被测半导体器件电连接,用于每隔第一预设时间段向所述被测半导体器件输出一呈第一预设波形变化的第一电压段;

峰值点检测电路,与所述电压源电连接,用于当检测到所述电压源输出电压为所述第一电压段的峰值电压时,输出采样触发信号;

采样电路,与所述峰值点检测电路电连接,用于当接收到所述采样触发信号时,采样所述被测半导体器件当前的第一电流,将其作为所述被测半导体器件的截止电流。

2.根据权利要求1所述的测试半导体器件的截止电流的装置,其特征在于,还包括存储电路,与所述采样电路电连接,所述采样电路还用于当接收到所述采样触发信号时,采样所述被测半导体器件当前的第一电压;所述存储电路用于存储所述被测半导体器件对应的第一电流和第一电压。

3.根据权利要求2所述的测试半导体器件的截止电流的装置,其特征在于,还包括显示电路,与所述采样电路电连接,所述显示电路用于显示所述采样电路采样到的所述被测半导体器件对应的第一电流和第一电压。

4.根据权利要求1所述的测试半导体器件的截止电流的装置,其特征在于,所述电压源包括截波电路、调压器、升压变压器和半波整流电路,

其中,所述截波电路的输入端与外部交流电源电连接,所述截波电路的输出端与所述调压器的输入端电连接,所述截波电路用于将其输入端连续输入的呈第二预设波形变化的第二电压段,每截断预设个数的第二电压段后输出一个第二电压段,所述第二电压段包括呈第一预设波形变化的第三电压段;

所述调压器的输出端与所述升压变压器的输入端电连接,所述调压器还包括调节端,所述调节端用于调节所述调压器的输出端与输入端的电压的变比;

所述升压变压器的输出端与所述半波整流电路的输入端电连接,所述半波整流电路的输出端与所述被测半导体器件电连接。

5.根据权利要求4所述的测试半导体器件的截止电流的装置,其特征在于,所述峰值点检测电路包括同步变压器、积分器、隔直电路、过零比较整形电路和第一单稳态触发电路,

其中,所述同步变压器的输入端与所述外部交流电源电连接,所述同步变压器的输出端与所述积分器的输入端电连接,所述积分器的输出端与所述隔直电路的输入端电连接,所述隔直电路的输出端与所述过零比较整形电路的输入端电连接,所述过零比较整形电路的输出端与所述第一单稳态触发电路的输入端电连接,所述第一单稳态触发电路的输出端与所述采样电路电连接。

6.根据权利要求5所述的测试半导体器件的截止电流的装置,其特征在于,所述截波电路包括第二整形电路、分频器、第二单稳态触发电路和电子开关,

其中,所述第二整形电路的输入端与所述同步变压器的输出端电连接,所述第二整形电路的输出端与所述分频器的输入端电连接,所述第二整形电路用于将其输入端的输入电压通过波形调理作用,输出与所述输入电压的频率相同且相位相同的脉冲电压至其输出端;

所述分频器的输出端与所述第二单稳态触发电路的输入端电连接,所述分频器用于将其输入端的电压进行预设分频数值的分频作用后输出至其输出端;

所述第二单稳态触发电路的输出端与所述电子开关的控制端电连接,所述电子开关的第一端与所述外部交流电源电连接,所述电子开关的第二端与所述调压器的输入端电连接。

7.根据权利要求6所述的测试半导体器件的截止电流的装置,其特征在于,还包括报警保护电路和与门电路,

其中,所述报警保护电路的第一输入端与所述采样电路电连接,所述报警保护电路的输出端与所述与门电路的第一输入端电连接,所述与门电路的第二输入端与所述第二单稳态触发电路的输出端电连接,所述与门电路的输出端与所述电子开关的控制端电连接,

所述报警保护电路用于当监测到所述采样电路采样到的被测半导体器件的电流大于或等于预设电流时,控制所述电子开关关断,并进行报警。

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