[实用新型]一种晶圆测试装置有效

专利信息
申请号: 201820406482.4 申请日: 2018-03-26
公开(公告)号: CN207992391U 公开(公告)日: 2018-10-19
发明(设计)人: 曹孙根 申请(专利权)人: 安徽钜芯半导体科技有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 合肥中博知信知识产权代理有限公司 34142 代理人: 吴栋杰
地址: 247100 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型提供一种晶圆测试装置,包括Y轴基座、Y轴导轨滑块机构、Y轴滚珠丝杠副机构、Z轴运动机构、工作台底板、Z轴转动机构、X轴基座、X轴滚轴丝杆副机构、X轴导轨滑块机构、Y轴驱动伺服电机、X轴驱动伺服电机、顶针升降控制机构、顶针、测试台、CCD摄像头。本实用新型实现晶圆在测试台上进行自动对准、定位、测试,不仅提高工作效率,降低晶圆在转移过程中破损的可能性,而且减少对晶圆的污染,提高晶圆工作的可靠性。
搜索关键词: 晶圆 顶针 本实用新型 测试装置 滑块机构 伺服电机 副机构 种晶 升降控制机构 工作台底板 测试 工作效率 滚轴丝杆 自动对准 测试台 破损 污染
【主权项】:
1.一种晶圆测试装置,其特征在于:包括Y轴基座、Y轴导轨滑块机构、Y轴滚珠丝杠副机构、Z轴运动机构、工作台底板、Z轴转动机构、X轴基座、X轴滚轴丝杆副机构、X轴导轨滑块机构、Y轴驱动伺服电机、X轴驱动伺服电机、顶针升降控制机构、顶针、测试台、CCD摄像头;Y轴导轨滑块机构固定安装在Y轴基座的两端,Y轴滚珠丝杠副机构安装在两个Y轴导轨滑块机构之间并固定在Y轴基座上,Y轴驱动伺服电机通过联轴器与Y轴滚珠丝杠副机构相连;X轴基座分别与Y轴导轨滑块机构、Y轴滚珠丝杠副机构活动连接,X轴基座的两端分别安装有X轴导轨滑块机构,X轴滚轴丝杆副机构安装在两个X轴导轨滑块机构之间并固定在X轴基座上,X轴驱动伺服电机通过联轴器与X轴滚轴丝杆副机构相连;工作台底板与X轴滚轴丝杆副机构、X轴导轨滑块机构活动连接,工作台底板上固定安装有Z轴运动机构、Z轴转动机构、顶针升降控制机构;测试台安装在顶针升降控制机构顶部,顶针安装在测试台上,CCD摄像头通过支架安装在测试台的上方。
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