[实用新型]一种基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置有效
| 申请号： | 201820382771.5 | 申请日： | 2018-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN208206053U | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 梁樾;赵润昌;靳赛;李志军;李天恩;李庆;李平;王伟;陈文棋;李森 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 韩雪 |
| 地址： | 621900 四川省绵*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于发散光束光学系统的倍频晶体特征角度的测量装置。该装置由照明光源、定位基准元件、发散透镜、待测晶体、匹配透镜和CCD组成。用于照明的平行光束注入整个测量装置，经过定位基准元件、发散透镜后垂直入射到待测晶体表面。然后通过匹配透镜和CCD组成的光学系统将入射光成像于监视CCD上，通过CCD采集图像中的灰度值最大点的位置坐标来反推使倍频效率最大时对应的倍频晶体偏离准直位的夹角，从而得出倍频晶体的特征角度。本实用新型有效的解决了快速精确测量晶体特征角度的难题，消除了在测量过程中因为入射光束不稳定性引入的光束角漂对测试结果的影响，具有测量原理简单，操作简便等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 倍频晶体 测量装置 本实用新型 定位基准 发散光束 发散透镜 光学系统 匹配透镜 倍频效率 不稳定性 采集图像 测量过程 测量晶体 测量原理 垂直入射 晶体表面 平行光束 入射光束 位置坐标 照明光源 光束角 入射光 最大点 反推 灰度 准直 成像 偏离 监视 引入 | ||
【主权项】：
1.一种基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置，其特征在于，在光路传输方向上依次排列有照明光源(1)、定位基准元件(2)、发散透镜(3或11)、待测晶体(4)、匹配透镜(5)和CCD(6)；其中光学元件均垂直于光轴，其几何中心均在光轴上，定位基准元件(2)正中心硬联结有定位基准(7或8)，照明光源(1)发出的平行光束照射定位基准元件(2)后，经过发散透镜(3或11)和待测晶体(4)后通过匹配透镜(5)后成像于CCD(6)。
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