[实用新型]一种基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置有效
| 申请号： | 201820382771.5 | 申请日： | 2018-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN208206053U | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 梁樾;赵润昌;靳赛;李志军;李天恩;李庆;李平;王伟;陈文棋;李森 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 韩雪 |
| 地址： | 621900 四川省绵*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 倍频晶体 测量装置 本实用新型 定位基准 发散光束 发散透镜 光学系统 匹配透镜 倍频效率 不稳定性 采集图像 测量过程 测量晶体 测量原理 垂直入射 晶体表面 平行光束 入射光束 位置坐标 照明光源 光束角 入射光 最大点 反推 灰度 准直 成像 偏离 监视 引入 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置，其特征在于，在光路传输方向上依次排列有照明光源(1)、定位基准元件(2)、发散透镜(3或11)、待测晶体(4)、匹配透镜(5)和CCD(6)；其中光学元件均垂直于光轴，其几何中心均在光轴上，定位基准元件(2)正中心硬联结有定位基准(7或8)，照明光源(1)发出的平行光束照射定位基准元件(2)后，经过发散透镜(3或11)和待测晶体(4)后通过匹配透镜(5)后成像于CCD(6)。
2.如权利要求1所述的基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置，其特征在于，定位基准(7或8)和定位基准元件(2)硬联结为一个整体，联结位置在定位基准元件(2)的几何中心。
3.如权利要求1所述的基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置，其特征在于，所述待测晶体(4)的初始基准位置为垂直于光轴。
4.根据权利要求1所述的基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置，其特征在于：合理排布各个光学元件之间的距离，使得照明光源(1)的物面(9)经过测量装置后的像面(10)在CCD(6)位置。
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