[实用新型]一种三维平行板电极半导体探测器及探测装置有效
申请号: | 201820379774.3 | 申请日: | 2019-01-17 |
公开(公告)号: | CN208835074U | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 李正;刘曼文 | 申请(专利权)人: | 湘潭大学 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/10 |
代理公司: | 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 | 代理人: | 赵红霞 |
地址: | 411105 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本实用新型属于辐射探测技术领域,公开了一种三维平行板电极半导体探测器,设置有:两个电极板分别为阴极电极和阳极电极;电极板通过贯穿刻蚀,离子注入或扩散掺杂工艺形成在半导体基体上;半导体基体上通过贯穿刻蚀,离子注入或扩散掺杂工艺形成第一电极板、第二电极板。本实用新型抗辐射性能强,电极间即探测器内部电场分布均匀,解决了中正负电极间的电场分布不均匀,存在大面积弱电场区,单个探测器单元结构的大小对抗辐射性能影响大,不方便调节从而不能控制探测器位置分辨率的问题,减少了弱电场区域,提高探测器的单元及阵列探测效率。且电极在半导体内可以贯穿刻蚀,电极间距可以在可控范围内调整,从而使得探测器性能不受芯片厚度限制。 | ||
搜索关键词: | 电极板 电极 探测器 刻蚀 半导体探测器 半导体基体 本实用新型 平行板电极 扩散掺杂 贯穿 离子 三维 控制探测器 弱电场区域 探测器单元 位置分辨率 电场分布 方便调节 辐射探测 辐射性能 厚度限制 内部电场 探测装置 阳极电极 阴极电极 阵列探测 正负电极 不均匀 抗辐射 场区 可控 弱电 半导体 芯片 对抗 | ||
【主权项】:
1.一种三维平行板电极半导体探测器,其特征在于,三维平行板电极半导体探测器设置有:阴极电极和阳极电极;阴极电极和阳极电极通过贯穿刻蚀,离子注入或扩散掺杂工艺形成在半导体基体上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的