[实用新型]测试针座的探针结构

摘要

本实用新型提供一种测试针座的探针结构，该针座的穿置空间二侧为分别设有复数第一穿孔及复数第二穿孔，且复数第一穿孔及复数第二穿孔中插设有复数探针，而各探针一端设有供挡止于第一穿孔外周缘处的挡止部，而探针相对于挡止部另一端设有供穿过复数第二穿孔处的对接部，其因挡止部为止挡于第一穿孔外周缘处，所以可利用挡止部来有效控制复数探针的对接部露出于第二穿孔外部的长度，进而节省复数探针装设时间，且同时增加复数探针出针的准确率，如此使复数探针可与外部待测物确实形成电性接触，以达到提升检测作业准确度的效果。

主权项

1.一种测试针座的探针结构，其特征是包括针座及复数探针，其中：该针座内部形成有穿置空间，并在针座二侧表面分别设有连通至穿置空间内的复数第一穿孔及复数第二穿孔；该复数探针插设于复数第一穿孔及复数第二穿孔中，且各探针一端设有供挡止于第一穿孔外周缘处且与预设检测设备形成电性接触的挡止部，而探针相对于挡止部另一端设有供穿过复数第二穿孔处并与预设待测物形成电性接触的对接部；该探针的挡止部具有通过电铸或电镀方式成形的T字型挡块，且探针位于挡止部与对接部间的表面上设有供阻隔电磁信号的阻隔层。