[实用新型]测试针座的探针结构

权利要求书

1.一种测试针座的探针结构，其特征是包括针座及复数探针，其中：

该针座内部形成有穿置空间，并在针座二侧表面分别设有连通至穿置空间内的复数第一穿孔及复数第二穿孔；

该复数探针插设于复数第一穿孔及复数第二穿孔中，且各探针一端设有供挡止于第一穿孔外周缘处且与预设检测设备形成电性接触的挡止部，而探针相对于挡止部另一端设有供穿过复数第二穿孔处并与预设待测物形成电性接触的对接部；

该探针的挡止部具有通过电铸或电镀方式成形的T字型挡块，且探针位于挡止部与对接部间的表面上设有供阻隔电磁信号的阻隔层。

2.根据权利要求1所述测试针座的探针结构，其特征在于：该针座包括第一基材及第二基材，并在第一基材与第二基材之间形成有穿置空间，且第一基材与第二基材表面上分别设有复数第一穿孔及复数第二穿孔，在第一基材与第二基材之间结合有至少一片绝缘材质制成并位于穿置空间中的垫片，且垫片上对位于复数第一穿孔处设有复数通孔，而第一基材外表面上设有绝缘材质制成的片体，而片体上对位于复数第一穿孔处设有孔径大于第一穿孔的孔径且供挡止部置入的容置孔。