[实用新型]测试针座的探针结构

说明书

本实用新型提供一种测试针座的探针结构，该针座的穿置空间二侧为分别设有复数第一穿孔及复数第二穿孔，且复数第一穿孔及复数第二穿孔中插设有复数探针，而各探针一端设有供挡止于第一穿孔外周缘处的挡止部，而探针相对于挡止部另一端设有供穿过复数第二穿孔处的对接部，其因挡止部为止挡于第一穿孔外周缘处，所以可利用挡止部来有效控制复数探针的对接部露出于第二穿孔外部的长度，进而节省复数探针装设时间，且同时增加复数探针出针的准确率，如此使复数探针可与外部待测物确实形成电性接触，以达到提升检测作业准确度的效果。

技术领域

本实用新型涉及一种测试针座的探针结构，尤指探针一端设有供挡止于针座的第一穿孔外周缘处的挡止部，以凭借挡止部来有效控制复数探针的对接部露出于第二穿孔外部的长度，进而节省复数探针装设时间及提升复数探针出针的准确率，如此提升检测作业时的准确度。

背景技术

目前印刷电路板(PCB)、晶圆、液晶显示器(LCD)或集成电路晶片(IC)等电子元件封装前，通常会利用检测机台的复数探针(Probe)来进行电性表现或可靠度等性能检测作业，以得知电子元件是否有缺陷，进而有效提前筛选出不良品，便可提升后续的制程制造合格率，如此避免材料、时间上的浪费，以具有降低整体生产成本的效果。

再者，请参阅图5所示，是现有的侧视剖面图，由图中可清楚看出，该检测装置A位于电路板A1一侧处装设有针座B，并在针座B二侧表面分别穿设有复数上通孔B1及复数下通孔B2，且复数上通孔B1及复数下通孔B2中穿设有复数探针C，即可利用复数探针C来对预设待测物(如：印刷电路板、晶圆、液晶显示器或集成电路晶片等电子元件)进行检测作业，然而，由于复数探针C为一根一根插设于针座B上，所以复数探针C插设于针座B上时容易产生些许误差，以致于无法精确的控制复数探针C于复数下通孔B2处的出针长度，导致需要多一步骤调整出针的长度，才能使复数探针C准确进行检测作业，从而浪费许多时间，以及组装上的成本。

是以，要如何设法解决上述现有的缺失与不便，即为相关业者所亟欲研究改善的方向所在。

实用新型内容

因此，本实用新型设计人有鉴于上述缺失，乃搜集相关资料，经由多方评估及考量，并以从事于此行业累积的多年经验，经由不断试作及修改，始设计出此种测试针座的探针结构的新型专利。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

一种测试针座的探针结构，其特征是包括针座及复数探针，其中：

该针座内部形成有穿置空间，并在针座二侧表面分别设有连通至穿置空间内的复数第一穿孔及复数第二穿孔；

该复数探针插设于复数第一穿孔及复数第二穿孔中，且各探针一端设有供挡止于第一穿孔外周缘处且与预设检测设备形成电性接触的挡止部，而探针相对于挡止部另一端设有供穿过复数第二穿孔处并与预设待测物形成电性接触的对接部。

所述测试针座的探针结构，其中：该针座包括第一基材及第二基材，并在第一基材与第二基材之间形成有穿置空间，且第一基材与第二基材表面上分别设有复数第一穿孔及复数第二穿孔，在第一基材与第二基材之间结合有至少一片绝缘材质制成并位于穿置空间中的垫片，且垫片上对位于复数第一穿孔处设有复数通孔，而第一基材外表面上设有绝缘材质制成的片体，而片体上对位于复数第一穿孔处设有孔径大于第一穿孔的孔径且供挡止部置入的容置孔。

所述测试针座的探针结构，其中：该探针的挡止部具有通过电铸或电镀方式成形的T字型挡块，且探针位于挡止部与对接部间的表面上设有供阻隔电磁信号的阻隔层。