[发明专利]一种芯片ESD保护电路的仿真电路和方法有效
申请号: | 201811643069.0 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109752612B | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 刘海飞;何贵振 | 申请(专利权)人: | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/36;G06F30/367 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710003 陕西省西安市高新区软件*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明提供一种芯片ESD保护电路的仿真电路及方法,通过仿真能够提前找到芯片中抗ESD能力差的器件,并优化电路,提高芯片抗ESD的能力。所述仿真电路包括连接在电源电压VDD和公共接地电压VSS之间的一个ESD激励源,一个ESD保护模块和至少一个功能模块;所述的ESD激励源用于按照设定的ESD电流特性曲线加载ESD电压;所述的ESD保护模块中设置有电源钳位NMOS管NESD,电源钳位NMOS管NESD的漏极设置一个电流监测器Ifail与电源电压VDD连接,源极连接公共接地电压VSS;所述的功能模块中设置有CMOS管N1,CMOS管N1的栅极和漏极之间,以及栅极和源级之间分别设置一个电压监测器Efail。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 esd 保护 电路 仿真 方法 | ||
【主权项】:
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