[发明专利]液晶显示器的像素电极缺陷检测方法及设备有效
| 申请号： | 201811640998.6 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN109545117B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 邱涛 | 申请（专利权）人： | 成都中电熊猫显示科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 朱颖;刘芳 |
| 地址： | 610200 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种液晶显示器的像素电极检测方法，该方法包括：开启待测像素电极的门电极，对每个所述待测像素电极施加正电压；在持续施加所述正电压第一预设时间后，关闭所述待测像素电极的门电极，对每个所述像素电极施加负电压；在持续施加所述负电压第二预设时间后，获取每个所述待测像素电极的电压值，并根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极。本发明实施例能够发现IGZO液晶显示器的缺陷像素电极，避免缺陷漏检。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶显示器 像素 电极 缺陷 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种液晶显示器的像素电极检测方法，其特征在于，包括：开启待测像素电极的门电极，对每个所述待测像素电极施加正电压；在持续施加所述正电压第一预设时间后，关闭所述待测像素电极的门电极，对每个所述像素电极施加负电压；在持续施加所述负电压第二预设时间后，获取每个所述待测像素电极的电压值，并根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极。
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