[发明专利]液晶显示器的像素电极缺陷检测方法及设备

说明书

本发明实施例提供一种液晶显示器的像素电极检测方法，该方法包括：开启待测像素电极的门电极，对每个所述待测像素电极施加正电压；在持续施加所述正电压第一预设时间后，关闭所述待测像素电极的门电极，对每个所述像素电极施加负电压；在持续施加所述负电压第二预设时间后，获取每个所述待测像素电极的电压值，并根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极。本发明实施例能够发现IGZO液晶显示器的缺陷像素电极，避免缺陷漏检。

技术领域

本发明实施例涉及显示领域，尤其涉及一种液晶显示器的像素电极检测方法及设备。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(Tin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)的每一个像素均是由TFT驱动，具有高分辨率、反应速度快、高辉度、高开口率等优点，是当前主流的液晶显示器。铟镓锌氧化物(indium gallium zinc oxide，IGZO)液晶显示器是一种采用IGZO作为TFT有源层材料的TFT-LCD。IGZO能够大大提高TFT对像素电极的充放电速率，提高像素的响应速度，实现更快的刷新率，同时更快的响应也大大提高了像素的行扫描速率，使得超高分辨率在TFT-LCD中成为可能。另外，由于晶体管数量减少和提高了每个像素的透光率，IGZO液晶显示器具有更高的能效水平，而且效率更高。

液晶显示器在生产过程中，不可避免的会产生各种缺陷，例如，点缺陷和线缺陷。目前，TFT-LCD阵列的点缺陷检测通常是通过阵列测试机实现。

然而，发明人发现这种缺陷检测方法难以发现IGZO液晶显示器中的缺陷像素电极，导致缺陷漏检。

发明内容

本发明提供一种液晶显示器的像素电极检测方法及设备，能够发现IGZO液晶显示器中的缺陷像素电极，防止缺陷漏检。

第一方面，本发明提供一种液晶显示器的像素电极检测方法，包括：

开启待测像素电极的门电极，对每个所述待测像素电极施加正电压；

在持续施加所述正电压第一预设时间后，关闭所述待测像素电极的门电极，对每个所述像素电极施加负电压；

在持续施加所述负电压第二预设时间后，获取每个所述待测像素电极的电压值，并根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极。

在第一方面的第一种实现方式中，所述根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极，包括：

根据每个所述待测像素电极的电压值，确定所有待测像素电极的电压平均值；

根据所有待测像素电极的电压平均值，确定所有待测像素电极的电压阈值；

根据每个所述待测像素电极的电压值和所述电压阈值，确定缺陷像素电极。

结合第一方面的第一种实现方式，在第二种实现方式中，所述根据每个所述待测像素电极的电压值和所述电压阈值，确定缺陷像素电极，包括：

若第一目标像素电极的电压值小于所述电压阈值，则确定所述第一目标像素电极为缺陷像素电极，其中，所述第一目标像素电极为待测像素电极中的任一像素电极。

在第一方面的第三种实现方式中，所述根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极，包括：

根据每个所述待测像素电极的电压值，确定每个所述待测像素电极的辉度值；

根据每个所述待测像素电极的辉度值，确定所有待测像素电极的辉度平均值；

根据所有待测像素电极的辉度平均值，确定所有待测像素电极的辉度阈值；

根据每个所述待测像素电极的辉度值和所述辉度阈值，确定缺陷像素电极。