[发明专利]液晶显示器的像素电极缺陷检测方法及设备有效

专利信息
申请号: 201811640998.6 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109545117B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 邱涛 申请(专利权)人: 成都中电熊猫显示科技有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 朱颖;刘芳
地址: 610200 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 液晶显示器 像素 电极 缺陷 检测 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种液晶显示器的像素电极检测方法,其特征在于,包括:

开启待测像素电极的门电极,对每个所述待测像素电极施加正电压;

在持续施加所述正电压第一预设时间后,关闭所述待测像素电极的门电极,对每个所述像素电极施加负电压;

在持续施加所述负电压第二预设时间后,获取每个所述待测像素电极的电压值,并根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极;

所述根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极,包括:

若第一目标像素电极的电压值小于电压阈值,则确定所述第一目标像素电极为缺陷像素电极,其中,所述第一目标像素电极为待测像素电极中的任一像素电极;

或者,若第二目标像素电极的辉度值大于辉度阈值,则确定所述第二目标像素电极为缺陷像素电极,其中,所述第二目标像素电极为待测像素电极中的任一像素电极。

2.如权利要求1所述的液晶显示器的像素电极检测方法,其特征在于,所述方法还包括:

根据每个所述待测像素电极的电压值,确定所有待测像素电极的电压平均值;

根据所有待测像素电极的电压平均值,确定所有待测像素电极的电压阈值。

3.如权利要求1所述的液晶显示器的像素电极检测方法,其特征在于,所述方法还包括:

根据每个所述待测像素电极的电压值,确定每个所述待测像素电极的辉度值;

根据每个所述待测像素电极的辉度值,确定所有待测像素电极的辉度平均值;

根据所有待测像素电极的辉度平均值,确定所有待测像素电极的辉度阈值。

4.如权利要求1所述的液晶显示器的像素电极检测方法,其特征在于,所述电压阈值的范围为所述电压平均值的0.5倍至0.6倍。

5.如权利要求3所述的液晶显示器的像素电极检测方法,其特征在于,所述辉度阈值的范围为所述辉度平均值的2倍至2.5倍。

6.如权利要求1至5任一项所述的液晶显示器的像素电极检测方法,其特征在于,所述正电压的电压范围为15伏至30伏,所述负电压的电压范围为-15伏至-10伏。

7.一种液晶显示器的像素电极检测设备,其特征在于,包括:处理器、电压控制电路和电压检测电路;

所述处理器,用于控制所述电压控制电路开启待测像素电极的门电极,对每个所述待测像素电极施加正电压;

所述处理器,还用于在持续施加所述正电压第一预设时间后,控制所述电压控制电路关闭所述待测像素电极的门电极,对每个所述像素电极施加负电压;

所述处理器,还用于在持续施加所述负电压第二预设时间后,接收电压检测电路检测的每个所述待测像素电极的电压值,并根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极;

所述处理器,具体用于若第一目标像素电极的电压值小于电压阈值,则确定所述第一目标像素电极为缺陷像素电极,其中,所述第一目标像素电极为待测像素电极中的任一像素电极;

或者,若第二目标像素电极的辉度值大于辉度阈值,则确定所述第二目标像素电极为缺陷像素电极,其中,所述第二目标像素电极为待测像素电极中的任一像素电极。

8.如权利要求7所述的液晶显示器的像素电极检测设备,其特征在于,所述处理器具体用于

根据每个所述待测像素电极的电压值,确定所有待测像素电极的电压平均值;

根据所有待测像素电极的电压平均值,确定所有待测像素电极的电压阈值。

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