[发明专利]液晶显示器的像素电极缺陷检测方法及设备有效
| 申请号： | 201811640998.6 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN109545117B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 邱涛 | 申请（专利权）人： | 成都中电熊猫显示科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 朱颖;刘芳 |
| 地址： | 610200 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 液晶显示器 像素 电极 缺陷 检测 方法 设备 | ||
1.一种液晶显示器的像素电极检测方法，其特征在于，包括：
开启待测像素电极的门电极，对每个所述待测像素电极施加正电压；
在持续施加所述正电压第一预设时间后，关闭所述待测像素电极的门电极，对每个所述像素电极施加负电压；
在持续施加所述负电压第二预设时间后，获取每个所述待测像素电极的电压值，并根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极；
所述根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极，包括：
若第一目标像素电极的电压值小于电压阈值，则确定所述第一目标像素电极为缺陷像素电极，其中，所述第一目标像素电极为待测像素电极中的任一像素电极；
或者，若第二目标像素电极的辉度值大于辉度阈值，则确定所述第二目标像素电极为缺陷像素电极，其中，所述第二目标像素电极为待测像素电极中的任一像素电极。
2.如权利要求1所述的液晶显示器的像素电极检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
根据每个所述待测像素电极的电压值，确定所有待测像素电极的电压平均值；
根据所有待测像素电极的电压平均值，确定所有待测像素电极的电压阈值。
3.如权利要求1所述的液晶显示器的像素电极检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
根据每个所述待测像素电极的电压值，确定每个所述待测像素电极的辉度值；
根据每个所述待测像素电极的辉度值，确定所有待测像素电极的辉度平均值；
根据所有待测像素电极的辉度平均值，确定所有待测像素电极的辉度阈值。
4.如权利要求1所述的液晶显示器的像素电极检测方法，其特征在于，所述电压阈值的范围为所述电压平均值的0.5倍至0.6倍。
5.如权利要求3所述的液晶显示器的像素电极检测方法，其特征在于，所述辉度阈值的范围为所述辉度平均值的2倍至2.5倍。
6.如权利要求1至5任一项所述的液晶显示器的像素电极检测方法，其特征在于，所述正电压的电压范围为15伏至30伏，所述负电压的电压范围为-15伏至-10伏。
7.一种液晶显示器的像素电极检测设备，其特征在于，包括：处理器、电压控制电路和电压检测电路；
所述处理器，用于控制所述电压控制电路开启待测像素电极的门电极，对每个所述待测像素电极施加正电压；
所述处理器，还用于在持续施加所述正电压第一预设时间后，控制所述电压控制电路关闭所述待测像素电极的门电极，对每个所述像素电极施加负电压；
所述处理器，还用于在持续施加所述负电压第二预设时间后，接收电压检测电路检测的每个所述待测像素电极的电压值，并根据每个所述待测像素电极的电压值确定缺陷像素电极；
所述处理器，具体用于若第一目标像素电极的电压值小于电压阈值，则确定所述第一目标像素电极为缺陷像素电极，其中，所述第一目标像素电极为待测像素电极中的任一像素电极；
或者，若第二目标像素电极的辉度值大于辉度阈值，则确定所述第二目标像素电极为缺陷像素电极，其中，所述第二目标像素电极为待测像素电极中的任一像素电极。
8.如权利要求7所述的液晶显示器的像素电极检测设备，其特征在于，所述处理器具体用于
根据每个所述待测像素电极的电压值，确定所有待测像素电极的电压平均值；
根据所有待测像素电极的电压平均值，确定所有待测像素电极的电压阈值。
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