[发明专利]静态光反射显微热成像方法、装置及终端设备

摘要

本发明提供了一种静态光反射显微热成像方法、装置及终端设备，同时获取被光源区域A的图像和被测目标区域B的图像，通过光源区域A的像素读数，获取被测目标区域B的漂移修正系数；在M个不同温度下获取每个温度下被测目标区域B的N帧图像，计算被测目标区域B中任一像素b_k的读数均值获得b_k所对应的M个数据对；进行线性拟合得到斜率β并根据β计算b_k所对应的光热反射系数C_TR(b_k)；分别计算参考温度T₀下b_k的读数均值和待测温度T_x下b_k的读数均值根据T₀、C_TR(b_k)、和计算b_k的待测温度T_x(b_k)。解决了基于相机的热成像技术需要对被测目标的温度进行调制的问题。

主权项

1.一种静态光反射显微热成像方法，其特征在于，该方法应用于一种静态光反射显微热成像装置，通过该装置同时获取被测目标所对应的光源区域A的图像和被测目标区域B的图像，该方法包括：通过所述光源区域A中的全部或部分像素所对应的读数，获取所述被测目标区域B所对应的漂移修正系数；选取M个不同温度{T₁，T₂，...，T_l，...，T_M}下的所述被测目标区域B的图像，针对所述M个不同温度中的任一温度T_l，获取所述温度T_l下所述被测目标区域B所对应的N帧图像，结合所述被测目标区域B在所述N帧图像中每一帧图像所对应的漂移修正系数，计算所述被测目标区域B中任一像素b_k的读数均值获得像素b_k所对应的M个数据对对所述M个数据对进行线性拟合得到斜率β，根据所述斜率β计算b_k所对应的光热反射系数C_TR(b_k)；分别计算参考温度T₀下像素b_k的读数均值和待测温度T_x下像素b_k的读数均值根据所述参考温度T₀、所述像素b_k所对应的光热反射系数C_TR(b_k)、参考温度T₀下像素b_k的读数均值和待测温度T_x下像素b_k的读数均值计算所述像素b_k的待测温度T_x(b_k)。