[发明专利]静态光反射显微热成像方法、装置及终端设备在审
申请号: | 201811633816.2 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109813435A | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 刘岩;梁法国;翟玉卫;赵琳;丁晨 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 郝伟 |
地址: | 050051 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 被测目标 显微热成像 光源区域 终端设备 静态光 像素 反射 漂移 图像 热成像技术 光热反射 线性拟合 修正系数 帧图像 调制 相机 参考 | ||
1.一种静态光反射显微热成像方法,其特征在于,该方法应用于一种静态光反射显微热成像装置,通过该装置同时获取被测目标所对应的光源区域A的图像和被测目标区域B的图像,该方法包括:
通过所述光源区域A中的全部或部分像素所对应的读数,获取所述被测目标区域B所对应的漂移修正系数;
选取M个不同温度{T1,T2,...,Tl,...,TM}下的所述被测目标区域B的图像,针对所述M个不同温度中的任一温度Tl,获取所述温度Tl下所述被测目标区域B所对应的N帧图像,结合所述被测目标区域B在所述N帧图像中每一帧图像所对应的漂移修正系数,计算所述被测目标区域B中任一像素bk的读数均值获得像素bk所对应的M个数据对
对所述M个数据对进行线性拟合得到斜率β,根据所述斜率β计算bk所对应的光热反射系数CTR(bk);
分别计算参考温度T0下像素bk的读数均值和待测温度Tx下像素bk的读数均值
根据所述参考温度T0、所述像素bk所对应的光热反射系数CTR(bk)、参考温度T0下像素bk的读数均值和待测温度Tx下像素bk的读数均值计算所述像素bk的待测温度Tx(bk)。
2.根据权利要求1所述的静态光反射显微热成像方法,其特征在于,所述通过所述光源区域A中的全部或部分像素所对应的读数,获取所述被测目标区域B所对应的漂移修正系数包括:
获取所述光源区域A所对应的第i帧图像中的全部m个像素{a1,a2,...,aj,...,am},所述m个像素的读数集合为CA(i),被测目标区域B所对应的第i帧图像的漂移修正系数d(i)为:
d(i)=f(CA(i))。
3.根据权利要求1所述的静态光反射显微热成像方法,其特征在于,所述通过所述光源区域A中的全部或部分像素所对应的读数,获取所述被测目标区域B所对应的漂移修正系数包括:
获取所述光源区域A所对应的部分像素,所述部分像素的读数集合为A,被测目标区域B所对应的第i帧图像的漂移修正系数d(i)为:
式中,α为预设值,c(aj,i)为集合A中的像素aj所对应的读数。
4.根据权利要求3所述的静态光反射显微热成像方法,其特征在于:
α=1;
或其中,m为所述光源区域内像素的总个数;
或α=[∑Ac(aj,r)]-1,其中,c(aj,r)为A中的像素aj在预选定的参考帧r所对应的读数。
5.根据权利要求2-4任一项所述的静态光反射显微热成像方法,其特征在于,通过如下公式计算所述被测目标区域B中任一像素bk的读数均值
式中,cl(bk,i)为像素bk在第i帧的读数。
6.根据权利要求5所述的静态光反射显微热成像方法,其特征在于,通过如下公式计算bk所对应的光热反射系数CTR(bk):
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