[发明专利]静态光反射显微热成像方法、装置及终端设备在审

专利信息
申请号: 201811633816.2 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109813435A 公开(公告)日: 2019-05-28
发明(设计)人: 刘岩;梁法国;翟玉卫;赵琳;丁晨 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 郝伟
地址: 050051 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 被测目标 显微热成像 光源区域 终端设备 静态光 像素 反射 漂移 图像 热成像技术 光热反射 线性拟合 修正系数 帧图像 调制 相机 参考
【权利要求书】:

1.一种静态光反射显微热成像方法,其特征在于,该方法应用于一种静态光反射显微热成像装置,通过该装置同时获取被测目标所对应的光源区域A的图像和被测目标区域B的图像,该方法包括:

通过所述光源区域A中的全部或部分像素所对应的读数,获取所述被测目标区域B所对应的漂移修正系数;

选取M个不同温度{T1,T2,...,Tl,...,TM}下的所述被测目标区域B的图像,针对所述M个不同温度中的任一温度Tl,获取所述温度Tl下所述被测目标区域B所对应的N帧图像,结合所述被测目标区域B在所述N帧图像中每一帧图像所对应的漂移修正系数,计算所述被测目标区域B中任一像素bk的读数均值获得像素bk所对应的M个数据对

对所述M个数据对进行线性拟合得到斜率β,根据所述斜率β计算bk所对应的光热反射系数CTR(bk);

分别计算参考温度T0下像素bk的读数均值和待测温度Tx下像素bk的读数均值

根据所述参考温度T0、所述像素bk所对应的光热反射系数CTR(bk)、参考温度T0下像素bk的读数均值和待测温度Tx下像素bk的读数均值计算所述像素bk的待测温度Tx(bk)。

2.根据权利要求1所述的静态光反射显微热成像方法,其特征在于,所述通过所述光源区域A中的全部或部分像素所对应的读数,获取所述被测目标区域B所对应的漂移修正系数包括:

获取所述光源区域A所对应的第i帧图像中的全部m个像素{a1,a2,...,aj,...,am},所述m个像素的读数集合为CA(i),被测目标区域B所对应的第i帧图像的漂移修正系数d(i)为:

d(i)=f(CA(i))。

3.根据权利要求1所述的静态光反射显微热成像方法,其特征在于,所述通过所述光源区域A中的全部或部分像素所对应的读数,获取所述被测目标区域B所对应的漂移修正系数包括:

获取所述光源区域A所对应的部分像素,所述部分像素的读数集合为A,被测目标区域B所对应的第i帧图像的漂移修正系数d(i)为:

式中,α为预设值,c(aj,i)为集合A中的像素aj所对应的读数。

4.根据权利要求3所述的静态光反射显微热成像方法,其特征在于:

α=1;

或其中,m为所述光源区域内像素的总个数;

或α=[∑Ac(aj,r)]-1,其中,c(aj,r)为A中的像素aj在预选定的参考帧r所对应的读数。

5.根据权利要求2-4任一项所述的静态光反射显微热成像方法,其特征在于,通过如下公式计算所述被测目标区域B中任一像素bk的读数均值

式中,cl(bk,i)为像素bk在第i帧的读数。

6.根据权利要求5所述的静态光反射显微热成像方法,其特征在于,通过如下公式计算bk所对应的光热反射系数CTR(bk):

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