[发明专利]一种测试系统及其测试方法在审
| 申请号： | 201811624558.1 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN111381146A | 公开（公告）日： | 2020-07-07 |
| 发明（设计）人： | 熊友军;方巍 | 申请（专利权）人： | 深圳市优必选科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 518071 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种测试系统及其测试方法，测试系统用于对电路板进行老化测试，测试方法包括：确定电路板的第一电路模块的上电阶段信息；根据第一电路模块的上电阶段信息，在第一电路模块的上电阶段对电路板进行下电并再上电。本发明实施例中，经过连续多次上下电测试后检测电路板能否正常上电，实现了电路板的压力老化可靠性测试；断电的电压脉冲有可能对正在上电的第一电路模块造成损伤，经过连续多次上下电测试后检测第一电路模块的断电损伤老化程度，检测了第一电路模块对断电的电压脉冲的抗干扰能力，由此可深入检测电路板的硬件电路，解决了现有上下电老化测试无法深入检测PCBA的硬件电路的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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