[发明专利]一种测试系统及其测试方法

权利要求书

1.一种测试系统的测试方法，其特征在于，所述测试系统用于对电路板进行老化测试，所述测试方法包括：

确定所述电路板的第一电路模块的上电阶段信息；

根据所述第一电路模块的上电阶段信息，在所述第一电路模块的上电阶段对所述电路板进行下电并再上电。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述第一电路模块的上电阶段信息至少包括：所述第一电路模块的设定上电时差Tdel和所述第一电路模块的设定上电时长Trise；

所述第一电路模块的上电阶段为：(Tdq+Tdel，Tdq+Tdel+Trise)，其中，Tdq为所述电路板的入口上电时间。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述确定所述电路板的第一电路模块的上电阶段信息包括：

控制所述电路板连续上下电n次，并在每一次上电时采集所述电路板的入口上电时间、所述第一电路模块的起始上电时间和所述第一电路模块的上电时间长度，n为正整数且大于或等于5；

将计算得出的所述电路板的入口上电时间与所述第一电路模块的起始上电时间之间的上电时间差值平均值确定为所述第一电路模块的设定上电时差，以及将计算得出的所述第一电路模块的上电时间长度平均值确定为所述第一电路模块的设定上电时长。

4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，在所述第一电路模块的上电阶段对所述电路板进行下电的具体执行过程为：在所述第一电路模块的上电节点Tdq+Tdel+0.5*Trise处对所述电路板进行下电。

5.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：电路板、电压监测装置和电源分析装置；

所述电压监测装置用于确定所述电路板的第一电路模块的上电阶段信息；

所述电源分析装置用于根据所述第一电路模块的上电阶段信息，在所述第一电路模块的上电阶段对所述电路板进行下电并再上电。

6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述第一电路模块的上电阶段信息至少包括：所述第一电路模块的设定上电时差Tdel和所述第一电路模块的设定上电时长Trise；

所述第一电路模块的上电阶段为：(Tdq+Tdel，Tdq+Tdel+Trise)，其中，Tdq为所述电路板的入口上电时间。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述电压监测装置包括：

上电控制模块，用于控制所述电路板连续上下电n次，并在每一次上电时采集所述电路板的入口上电时间、所述第一电路模块的起始上电时间和所述第一电路模块的上电时间长度，n为正整数且大于或等于5；

上电计算模块，用于将计算得出的所述电路板的入口上电时间与所述第一电路模块的起始上电时间之间的上电时间差值平均值确定为所述第一电路模块的设定上电时差，以及将计算得出的所述第一电路模块的上电时间长度平均值确定为所述第一电路模块的设定上电时长。

8.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述电源分析装置具体用于在所述第一电路模块的上电节点Tdq+Tdel+0.5*Trise处对所述电路板进行下电。

9.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述电压监测装置为示波器，所述电源分析装置为高精度直流电源分析仪。