[发明专利]一种用于验证芯片环境完备性的方法及其系统在审
| 申请号： | 201811622261.1 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109711057A | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | 陈明园;周方健;孙柳 | 申请（专利权）人： | 深圳忆联信息系统有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 冯筠 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于验证芯片环境完备性的方法及其系统；其中，用于验证芯片环境完备性的方法，包括以下步骤：S1，创建覆盖组，覆盖组中包含至少一个覆盖点；S2，将覆盖点插入验证环境关注的执行代码中；S3，对覆盖点覆盖信息进行采样和收集；S4，运用相应的EDA工具对覆盖点覆盖信息进行显示；S5，判断覆盖点是否全被覆盖到；若是，进入S7；若不是，则进入S6；S6，对验证环境进行完善，并返回S3；S7，输出环境完备信号。本发明将以往验证环境完备性的人为保证变成了工具自动呈现，显得更直观，也更具说服力，且准确率更高，能够更好地满足需求。 | ||
| 搜索关键词： | 覆盖 完备性 验证芯片 覆盖信息 验证 环境关注 输出环境 自动呈现 采样 准确率 直观 返回 创建 保证 | ||
【主权项】：
1.一种用于验证芯片环境完备性的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，创建覆盖组，覆盖组中包含至少一个覆盖点；S2，将覆盖点插入验证环境关注的执行代码中；S3，对覆盖点覆盖信息进行采样和收集；S4，运用相应的EDA工具对覆盖点覆盖信息进行显示；S5，判断覆盖点是否全被覆盖到；若是，进入S7；若不是，则进入S6；S6，对验证环境进行完善，并返回S3；S7，输出环境完备信号。
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