[发明专利]一种用于验证芯片环境完备性的方法及其系统

说明书

本发明涉及一种用于验证芯片环境完备性的方法及其系统；其中，用于验证芯片环境完备性的方法，包括以下步骤：S1，创建覆盖组，覆盖组中包含至少一个覆盖点；S2，将覆盖点插入验证环境关注的执行代码中；S3，对覆盖点覆盖信息进行采样和收集；S4，运用相应的EDA工具对覆盖点覆盖信息进行显示；S5，判断覆盖点是否全被覆盖到；若是，进入S7；若不是，则进入S6；S6，对验证环境进行完善，并返回S3；S7，输出环境完备信号。本发明将以往验证环境完备性的人为保证变成了工具自动呈现，显得更直观，也更具说服力，且准确率更高，能够更好地满足需求。

技术领域

本发明涉及芯片验证技术领域，更具体地说是指一种用于验证芯片环境完备性的方法及其系统。

背景技术

芯片验证过程中会通过代码覆盖率检查设计代码是否被覆盖，用功能覆盖率检查设计代码功能是否被覆盖；但往往同一个功能可以有多种验证场景来覆盖，所以在验证过程中需要有丰富的验证场景来支持；一个好的验证环境，往往包含很丰富的验证场景，这些验证场景都是验证人员编写和维护的；但是加入人为因素，如果没有一个定量来表征，或没有一个工具显式地表达出来哪些验证场景被执行了，就有可能漏掉重要的验证场景；又或者验证环境中加入了很丰富的检查比对机制，如果没有一个定量来表征，或没有一个工具显式地表达出来，就有可能漏掉重要的检查机制；而这些检查机制往往包含对重要功能执行是否正确的检查，如果因为验证人员手误导致检查失效，该功能将不能保证正确。

目前，业界还没有明确规定验证环境该如何保证完备性，统一的做法都是由验证人员自己维护，由其他人员进行复查；但这种方法由于维护模糊，不够严谨，无法保证功能点得到充分验证。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种用于验证芯片环境完备性的方法及其系统。

为实现上述目的，本发明采用于下技术方案：

一种用于验证芯片环境完备性的方法，包括以下步骤：

S1，创建覆盖组，覆盖组中包含至少一个覆盖点；

S2，将覆盖点插入验证环境关注的执行代码中；

S3，对覆盖点覆盖信息进行采样和收集；

S4，运用相应的EDA工具对覆盖点覆盖信息进行显示；

S5，判断覆盖点是否全被覆盖到；若是，进入S7；若不是，则进入S6；

S6，对验证环境进行完善，并返回S3；

S7，输出环境完备信号。

其进一步技术方案为：所述S1中，覆盖组的数量为至少一个。

其进一步技术方案为：所述S1包括：

S11，在环境中创建至少一个覆盖组；

S12，每个覆盖组中包含至少一个覆盖点。

其进一步技术方案为：所述S3中，在环境运行过程中，对覆盖点覆盖信息进行采样和收集。

其进一步技术方案为：所述S4中，环境执行结束后，运用相应的EDA工具对覆盖点覆盖信息进行显示。

其进一步技术方案为：所述S6中，检查验证环境，对验证环境进行完善。

一种用于验证芯片环境完备性的系统，包括创建单元，插入单元，采样收集单元，显示单元，判断单元，完善单元，及输出单元；

所述创建单元，用于创建覆盖组，覆盖组中包含至少一个覆盖点；

所述插入单元，用于将覆盖点插入验证环境关注的执行代码中；

所述采样收集单元，用于对覆盖点覆盖信息进行采样和收集；