[发明专利]一种用于验证芯片环境完备性的方法及其系统在审
| 申请号： | 201811622261.1 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109711057A | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | 陈明园;周方健;孙柳 | 申请（专利权）人： | 深圳忆联信息系统有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 冯筠 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 覆盖 完备性 验证芯片 覆盖信息 验证 环境关注 输出环境 自动呈现 采样 准确率 直观 返回 创建 保证 | ||
1.一种用于验证芯片环境完备性的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1，创建覆盖组，覆盖组中包含至少一个覆盖点；
S2，将覆盖点插入验证环境关注的执行代码中；
S3，对覆盖点覆盖信息进行采样和收集；
S4，运用相应的EDA工具对覆盖点覆盖信息进行显示；
S5，判断覆盖点是否全被覆盖到；若是，进入S7；若不是，则进入S6；
S6，对验证环境进行完善，并返回S3；
S7，输出环境完备信号。
2.根据权利要求1所述的一种用于验证芯片环境完备性的方法，其特征在于，所述S1中，覆盖组的数量为至少一个。
3.根据权利要求2所述的一种用于验证芯片环境完备性的方法，其特征在于，所述S1包括：
S11，在环境中创建至少一个覆盖组；
S12，每个覆盖组中包含至少一个覆盖点。
4.根据权利要求1所述的一种用于验证芯片环境完备性的方法，其特征在于，所述S3中，在环境运行过程中，对覆盖点覆盖信息进行采样和收集。
5.根据权利要求1所述的一种用于验证芯片环境完备性的方法，其特征在于，所述S4中，环境执行结束后，运用相应的EDA工具对覆盖点覆盖信息进行显示。
6.根据权利要求1所述的一种用于验证芯片环境完备性的方法，其特征在于，所述S6中，检查验证环境，对验证环境进行完善。
7.一种用于验证芯片环境完备性的系统，其特征在于，包括创建单元，插入单元，采样收集单元，显示单元，判断单元，完善单元，及输出单元；
所述创建单元，用于创建覆盖组，覆盖组中包含至少一个覆盖点；
所述插入单元，用于将覆盖点插入验证环境关注的执行代码中；
所述采样收集单元，用于对覆盖点覆盖信息进行采样和收集；
所述显示单元，用于运用相应的EDA工具对覆盖点覆盖信息进行显示；
所述判断单元，用于判断覆盖点是否全被覆盖到；
所述完善单元，用于对验证环境进行完善；
所述输出单元，用于输出环境完备信号。
8.根据权利要求7所述的一种用于验证芯片环境完备性的系统，其特征在于，所述创建单元中覆盖组的数量为至少一个。
9.根据权利要求7所述的一种用于验证芯片环境完备性的系统，其特征在于，所述采样收集单元中，对覆盖点覆盖信息进行采样和收集是在环境运行过程中。
10.根据权利要求7所述的一种用于验证芯片环境完备性的系统，其特征在于，所述显示单元中，在环境执行结束后，运用相应的EDA工具对覆盖点覆盖信息进行显示；所述完善单元中，检查验证环境，对验证环境进行完善。
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