[发明专利]一种闭环烧录校准的方法有效

专利信息
申请号: 201811583858.X 申请日: 2018-12-24
公开(公告)号: CN109828763B 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 陈思波;张伟;朱立湘;尹志明 申请(专利权)人: 惠州市蓝微电子有限公司
主分类号: G06F8/61 分类号: G06F8/61;G06F21/60
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 陈卫;谭映华
地址: 516000 广东省惠州*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及烧录校准技术领域,具体公开了一种闭环烧录校准的方法,包括烧录阶段和校准阶段,其特征在于,所述烧录阶段包括以下步骤:S10、读取产品原始制造信息序列号,在进行BootLoad基础烧录后,创建密钥,分配与原始制造信息序列号对应的唯一密钥序列号,并将原始制造信息序列号与密钥序列号捆绑保存至数据库,本发明有效解决了产品在BootLoad基础烧录后,其之前相应寄存器存储单元中数据被清空,或是产品在烧录校准校验过程中,由于外界因素或测试超出规格异常失败时,导致产品的原始制造信息序列号丢失,使得产品的可追溯性出现中断异常的问题。
搜索关键词: 一种 闭环 校准 方法
【主权项】:
1.一种闭环烧录校准的方法,包括烧录阶段和校准阶段,其特征在于,所述烧录阶段包括以下步骤:S10、读取产品原始制造信息序列号,在进行BootLoad基础烧录后,创建密钥,分配与原始制造信息序列号对应的唯一密钥序列号,并将原始制造信息序列号与密钥序列号捆绑保存至数据库。
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