[发明专利]一种闭环烧录校准的方法

权利要求书

1.一种闭环烧录校准的方法，包括烧录阶段和校准阶段，其特征在于，所述烧录阶段包括以下步骤：

S10、读取产品原始制造信息序列号，在进行BootLoad基础烧录后，创建密钥，分配与原始制造信息序列号对应的唯一密钥序列号，并将原始制造信息序列号与密钥序列号捆绑保存至数据库；

S11、在步骤S10完成后，继续对产品进行测试，若出现异常，则启用Restore SecureUpdate测试项目，读取数据库中与原始制造信息序列号对应的密钥序列号，并采集原始制造信息烧写制造信息序列号，完成烧写；若无异常，则烧写制造信息序列号，完成烧写。

2.根据权利要求1所述的闭环烧录校准的方法，其特征在于，所述步骤S11中读取数据库中与原始制造信息序列号对应的密钥序列号，并采集原始制造信息烧写制造信息序列号中还包括以下过程：

将采集出来的原始制造信息写入到产品另一个指令层。

3.根据权利要求2所述的闭环烧录校准的方法，其特征在于：所述另一个指令层为产品在Restore Secure Update测试项目后生成的指令应用区间。

4.根据权利要求1中所述的闭环烧录校准的方法，其特征在于：所述数据库中包括原始制造信息序列号、密钥序列号、产品型号和设备编号。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的闭环烧录校准的方法，其特征在于：所述密钥序列号为十进制序列号。

6.根据权利要求1所述的闭环烧录校准的方法，其特征在于，所述校准阶段包括以下步骤：S20、建立动态修正的闭环系统，实时动态调整产品的参数精度补偿值。

7.根据权利要求6所述的闭环烧录校准的方法，其特征在于，所述步骤S20具体包括：

S201、将参数精度标准值和补偿接口值写入测试通道；

S202、根据当前测试通道产品的参数精度测试情况，依据算法计算出测试通道参数的精度补偿值；

S203、映射精度补偿值给到精度补偿接口，实时调整参数精度；

S204、返回到S201。

8.根据权利要求7所述的闭环烧录校准的方法，其特征在于：所述产品的参数包括温度、低压电芯电压、低压PACK端输出电压、高压电芯电压、高压PACK端输出电压、充电电流和放电电流；

所述精度补偿接口包括温度精度补偿接口、低压电芯电压精度补偿接口、低压PACK端输出电压精度补偿接口、高压电芯电压精度补偿接口、高压PACK端输出电压精度补偿接口、充电电流和放电电流精度补偿接口。

9.根据权利要求7所述的闭环烧录校准的方法，其特征在于：所述步骤S201中采用多通道测试方式。