[发明专利]用于电子产品的下线检测方法及系统有效
| 申请号： | 201811573169.0 | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN109683039B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 张栖银;雷雄国;郭迪;张树童;孙小平;刘强;雷玉雄;催简;乜洪波 | 申请（专利权）人： | 思必驰科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/01;G01M99/00 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 李彬彬;张丽 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州市苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种用于电子产品的下线检测方法。该方法包括：检测开机后的电子产品的FLASH标识；当FLASH标识没有标志位时，对电子产品进行IO口检测；当IO口检测通过时，设置第一FLASH标志位，对电子产品进行重启；检测重启后的电子产品的FLASH标识；当FLASH标识为第一FLASH标志位时，根据第一FLASH标志位，对电子产品进行功能检测；当功能检测通过时，设置第二FLASH标志位，对电子产品进行重启；检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；当FLASH标识为第二FLASH标志位时，根据第二FLASH标志位，对电子产品重启，以完成下线检测。发明实施例还提供了一种用于电子产品的下线检测系统。本发明实施例通过测试程序与产品合一实现产品的整体下线检测，检测过程更加便捷。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电子产品 下线 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于电子产品的下线检测方法，包括：检测开机后的电子产品的FLASH标识；当所述FLASH标识没有标志位时，对所述电子产品进行IO口检测；当IO口检测通过时，设置第一FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；检测重启后的电子产品的FLASH标识；当所述FLASH标识为所述第一FLASH标志位时，根据所述第一FLASH标志位，对所述电子产品进行功能检测；当功能检测通过时，设置第二FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；当所述FLASH标识为所述第二FLASH标志位时，根据所述第二FLASH标志位，对所述电子产品重启，以完成下线检测。
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