[发明专利]用于电子产品的下线检测方法及系统

说明书

本发明实施例提供一种用于电子产品的下线检测方法。该方法包括：检测开机后的电子产品的FLASH标识；当FLASH标识没有标志位时，对电子产品进行IO口检测；当IO口检测通过时，设置第一FLASH标志位，对电子产品进行重启；检测重启后的电子产品的FLASH标识；当FLASH标识为第一FLASH标志位时，根据第一FLASH标志位，对电子产品进行功能检测；当功能检测通过时，设置第二FLASH标志位，对电子产品进行重启；检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；当FLASH标识为第二FLASH标志位时，根据第二FLASH标志位，对电子产品重启，以完成下线检测。发明实施例还提供了一种用于电子产品的下线检测系统。本发明实施例通过测试程序与产品合一实现产品的整体下线检测，检测过程更加便捷。

技术领域

本发明涉及产品检测领域，尤其涉及一种用于电子产品的下线检测方法及系统。

背景技术

为了提高电子产品出厂的质量，降低次品的出场率，需要在电子产品线上出厂之前进行下线检测。无论何种下线检测技术(检测产品的部分或是产品的整体)，下线检测都是需要软件、硬件以及产线(夹具、检测装置、人工检测等)三方配合并有机组合才能完成的一个流程。针对于不同的产品，检测的偏重点(软件、硬件或产线)会有所不同。下线检测包括装配检测、功能检测等一系列测试来保证其检测的准确性。

在实现本发明过程中，发明人发现相关技术中至少存在如下问题：

首先，由于部分被测产品的形态太大，下线检测对这种形态较大的电子产品都是检测所述电子产品的一部分，而不是产品的整体检测；其次，下线检测的实现，是需要产线的机械手、传送器等大型设备才能完成，成本较高；再次，很大部分的产品将下线检测与正式产品的软件进行了分离，在生产的时候需要对电子产品进行多次烧录，操作较为繁琐；最后，更有一些下线检测是依赖于人工进行判断，主观性很强，无法达到下线检测的核心目标。

发明内容

为了至少解决现有技术中的由于被测产品形态太大，无法进行整体的下线检测，下线检测时需要在生产的时候对电子产品进行多次烧录，操作繁琐的问题，下线检测依赖人工进行判断，使得检测结果带有主观性的问题。

第一方面，本发明实施例提供一种用于电子产品的下线检测方法，包括：

检测开机后的电子产品的FLASH标识；

当所述FLASH标识没有标志位时，对所述电子产品进行IO口检测；

当IO口检测通过时，设置第一FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；

检测重启后的电子产品的FLASH标识；

当所述FLASH标识为所述第一FLASH标志位时，根据所述第一FLASH标志位，对所述电子产品进行功能检测；

当功能检测通过时，设置第二FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；

检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；

当所述FLASH标识为所述第二FLASH标志位时，根据所述第二FLASH标志位，对所述电子产品重启，以完成下线检测。

第二方面，本发明实施例提供一种用于电子产品的下线检测系统，包括：FLASH标识检测模块、IO口检测模块、功能检测模块、标志位设置模块、重启模块，其中，

所述FLASH标识检测模块用于检测开机后的电子产品的FLASH标识；

当所述FLASH标识没有标志位时，所述IO口检测模块用于对所述电子产品进行IO口检测；

当IO口检测通过时，所述标志位设置模块用于设置第一FLASH标志位，所述重启模块用于对所述电子产品进行重启；