[发明专利]用于电子产品的下线检测方法及系统

权利要求书

1.一种用于电子产品的下线检测方法，包括：

检测开机后的电子产品的FLASH标识；

当所述FLASH标识没有标志位时，对所述电子产品进行IO口检测；

当IO口检测通过时，设置第一FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；

检测重启后的电子产品的FLASH标识；

当所述FLASH标识为所述第一FLASH标志位时，根据所述第一FLASH标志位，对所述电子产品进行功能检测；

当功能检测通过时，设置第二FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；

检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；

当所述FLASH标识为所述第二FLASH标志位时，根据所述第二FLASH标志位，对所述电子产品重启，以完成下线检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对所述电子产品进行IO口检测还包括：

当IO口检测不通过时，对所述电子产品进行循环IO口检测，直到通过IO口检测为止。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对所述电子产品进行功能检测还包括：

当功能检测没有通过时，对所述电子产品进行循环功能检测，直到通过功能检测为止。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述功能检测包括：功能自检；

所述功能自检的检测项包括：按键和/或LED和/或喇叭和/或麦克风。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述方法还包括：当功能自检没有通过时，反馈自检失败的检测项。

6.一种用于电子产品的下线检测系统，包括：FLASH标识检测模块、IO口检测模块、功能检测模块、标志位设置模块、重启模块，其中，

所述FLASH标识检测模块用于检测开机后的电子产品的FLASH标识；

当所述FLASH标识没有标志位时，所述IO口检测模块用于对所述电子产品进行IO口检测；

当IO口检测通过时，所述标志位设置模块用于设置第一FLASH标志位，所述重启模块用于对所述电子产品进行重启；

在所述电子产品重启后，所述FLASH标识检测模块用于检测重启后的电子产品的FLASH标识；

当所述FLASH标识为所述第一FLASH标志位时，所述功能检测模块用于根据所述第一FLASH标志位，对所述电子产品进行功能检测；

当功能检测通过时，所述标志位设置模块用于设置第二FLASH标志位，所述重启模块用于对所述电子产品进行重启；

在所述电子产品再次重启后，所述FLASH标识检测模块用于检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；

当所述FLASH标识为所述第二FLASH标志位时，所述重启模块用于根据所述第二FLASH标志位，对所述电子产品重启，以完成下线检测。

7.根据权利要求6所述的系统，其中，所述IO口检测模块还用于：

当IO口检测不通过时，对所述电子产品进行循环IO口检测，直到通过IO口检测为止。

8.根据权利要求6所述的系统，其中，所述功能检测模块还用于：

当功能检测没有通过时，对所述电子产品进行循环功能检测，直到通过功能检测为止。

9.根据权利要求8所述的系统，其中，所述功能检测包括：功能自检；

所述功能自检的检测项包括：按键和/或LED和/或喇叭和/或麦克风。

10.根据权利要求9所述的系统，其中，所述系统还用于：当功能自检没有通过时，反馈自检失败的检测项。