[发明专利]一种纳米硅碳复合材料中硅、碳含量的检测方法在审
| 申请号： | 201811542100.1 | 申请日： | 2018-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN109596648A | 公开（公告）日： | 2019-04-09 |
| 发明（设计）人： | 唐爱悦;李晓萍;李祎;方升;刘美;王伟伟;沈雪玲;唐玲 | 申请（专利权）人： | 国联汽车动力电池研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N23/2005 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王文君;王文红 |
| 地址： | 101407 北京市怀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种纳米硅碳复合材料中硅、碳含量的检测方法，适用于硅或碳的含量在10％～90％范围内的材料的测定；包括操作：通过X射线衍射仪定量分析模式测定纳米硅碳复合材料的衍射谱，再通过分析软件计算碳(002)和硅(111)衍射峰的积分强度，最后通过积分强度计算硅、碳的相对含量。本发明提出的纳米硅碳复合材料中硅、碳含量的检测方法，对纳米硅碳复合材料的硅、碳相对含量的测试结果具有较好的稳定性、重复性和一致性。单个样品的衍射强度重现性综合偏差低于0.385％。对于不同硅、碳含量样品测试结果表明，硅、碳相对含量与其衍射峰积分面积存在线性关系，线性相关系数可达0.998。 | ||
| 搜索关键词： | 碳复合材料 纳米硅 衍射峰 检测 线性相关系数 定量分析 单个样品 分析软件 含量样品 模式测定 强度计算 线性关系 综合偏差 衍射谱 重现性 衍射 | ||
【主权项】：
1.一种纳米硅碳复合材料中硅、碳含量的检测方法，适用于硅或碳的含量在10％～90％范围内的材料的测定；其特征在于，包括操作：通过X射线衍射仪定量分析模式测定纳米硅碳复合材料的衍射谱，再通过分析软件计算碳(002)和硅(111)衍射峰的积分强度，最后通过积分强度计算硅、碳的相对含量。
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