[发明专利]一种纳米硅碳复合材料中硅、碳含量的检测方法

权利要求书

1.一种纳米硅碳复合材料中硅、碳含量的检测方法，适用于硅或碳的含量在10％～90％范围内的材料的测定；其特征在于，包括操作：

通过X射线衍射仪定量分析模式测定纳米硅碳复合材料的衍射谱，再通过分析软件计算碳(002)和硅(111)衍射峰的积分强度，最后通过积分强度计算硅、碳的相对含量。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)制样：待测的纳米硅碳复合材料过325目筛，取样质量大于2g，使用0.5mm深粉末样品槽进行制样；

(2)X射线衍射谱测试：X射线衍射仪采用定量分析模式，于室温下采集衍射角范围10°～90°的衍射谱；

(3)硅、碳相对含量的计算：将步骤(2)得到的衍射谱通过分析软件进行拟合，用积分强度计算碳和硅的相对含量。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述X射线衍射仪的测试参数为：X射线源采用铜靶，管电压35～45kV，管电流30～200mA，聚焦光路模式，测角仪半径300mm，探测器为D/tex一维阵列探测器。

4.根据权利要求1～3任一项所述的检测方法，其特征在于，所述X射线衍射仪的测试步长为0.01°，扫描速度：1°/min。

5.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，步骤(3)中，通过分析软件实现自动寻峰、拟合峰型功能；通过分析软件中数据库的标准卡片，确认衍射峰归属的物相。

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，读取所述分析软件数据库中六方相碳、立方相硅标准卡片，确定衍射峰物相归属。

7.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，步骤(3)中，通过分析软件背景函数、峰型函数的优化拟合，计算碳(002)和硅(111)衍射峰的积分强度；通过分析软件RIR计算碳和硅的相对含量。