[发明专利]充电测试方法以及充电测试装置有效
| 申请号： | 201811542081.2 | 申请日： | 2018-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN109444606B | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 周亚萍 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供的充电测试方法，所述方法包括：获取所述显示面板处于充电过程中的第一充电电压，其中所述第一充电电压为所述充电过程中的最大充电电压；获取预设馈通电压；根据所述第一充电电压与所述预设馈通电压，获取第二充电电压；根据所述第二充电电压以及预设对应关系，获取第一充电时长，其中所述预设对应关系包括第二充电电压与第一充电时长之间的对应关系。本申请将显示面板的充电时长的刷新频率设置为120赫兹，在充电时，不会出现充电不足或错充的情况，从而提高了显示面板的充电效率。 | ||
| 搜索关键词： | 充电 测试 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
1.一种充电测试方法，应用于显示面板，其特征在于，包括：获取所述显示面板处于充电过程中的第一充电电压，其中所述第一充电电压为所述充电过程中的最大充电电压；获取预设馈通电压；根据所述第一充电电压与所述预设馈通电压，获取第二充电电压；根据所述第二充电电压以及预设对应关系，获取第一充电时长，其中所述预设对应关系包括第二充电电压与第一充电时长之间的对应关系。
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