[发明专利]充电测试方法以及充电测试装置有效
| 申请号： | 201811542081.2 | 申请日： | 2018-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN109444606B | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 周亚萍 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 充电 测试 方法 以及 装置 | ||
1.一种充电测试方法，应用于显示面板，其特征在于，包括：
获取所述显示面板处于充电过程中的第一充电电压，其中所述第一充电电压为所述充电过程中的最大充电电压；
获取预设馈通电压；
根据所述第一充电电压与所述预设馈通电压，获取第二充电电压；
根据所述第二充电电压以及预设对应关系，获取第一充电时长，其中所述预设对应关系包括第二充电电压与第一充电时长之间的对应关系，所述第一充电时长为刷新频率为120赫兹的所述显示面板的充电时长。
2.根据权利要求1所述的充电测试方法，其特征在于，所述根据所述第二充电电压以及预设对应关系，获取第一充电时长的步骤包括：
获取所述显示面板的第一电阻值；
根据所述第一电阻值以及预设电阻补偿值，获取第二电阻值；
根据所述第二充电电压、所述第二电阻值以及预设对应关系，获取第一充电时长，其中所述预设对应关系包括第二充电电压、第二电阻值与第一充电时长之间的对应关系。
3.根据权利要求1所述的充电测试方法，其特征在于，所述根据所述第二充电电压以及预设对应关系，获取第一充电时长的步骤包括：
计算所述第一充电电压与所述第二充电电压之间的比值；
根据所述第二充电电压、所述比值以及预设对应关系，获取第一充电时长，所述预设对应关系包括第二充电电压、比值与第一充电时长之间的对应关系。
4.根据权利要求3所述的充电测试方法，其特征在于，所述根据所述第二充电电压、所述比值以及预设对应关系，获取第一充电时长的步骤包括：
获取所述显示面板的第一电阻值；
根据所述第一电阻值以及预设电阻补偿值，获取第二电阻值；
根据所述第二充电电压、所述比值、所述第二电阻值以及预设对应关系，获取第一充电时长，其中，所述预设对应关系包括第二充电电压、比值、第二电阻值与第一充电时长之间的对应关系。
5.根据权利要求1所述的充电测试方法，其特征在于，所述充电过程包括恒压充电阶段，所述第一充电电压为所述恒压充电阶段的充电电压，所述预设对应关系包括第一子预设对应关系以及第二子预设对应关系，所述根据所述第二充电电压以及预设对应关系，获取第一充电时长的步骤包括：
获取所述显示面板的第一电阻值；
根据所述第一电阻值以及预设电阻补偿值，获取第二电阻值；
根据所述第二充电电压以及第一子预设对应关系，获取充电时长集合，所述充电时长集合包括至少两个充电时长，其中所述第一子预设对应关系包括第二充电电压与充电时长集合之间的对应关系；
根据所述充电时长集合、所述第二电阻值以及第二子预设对应关系，获取第一充电时长，其中，所述第二子预设对应关系包括充电时长集合、第二电阻值与第一充电时长之间的对应关系。
6.根据权利要求5所述的充电测试方法，其特征在于，所述根据所述第二充电电压以及第一子预设对应关系，获取充电时长集合的步骤包括：
计算所述第一充电电压与所述第二充电电压之间的比值；
根据所述第二充电电压、所述比值以及第一子预设对应关系，获取充电时长集合，其中，所述第一子预设对应关系包括第二充电电压、比值与充电时长集合之间的对应关系。
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