[发明专利]充电测试方法以及充电测试装置

说明书

本申请提供的充电测试方法，所述方法包括：获取所述显示面板处于充电过程中的第一充电电压，其中所述第一充电电压为所述充电过程中的最大充电电压；获取预设馈通电压；根据所述第一充电电压与所述预设馈通电压，获取第二充电电压；根据所述第二充电电压以及预设对应关系，获取第一充电时长，其中所述预设对应关系包括第二充电电压与第一充电时长之间的对应关系。本申请将显示面板的充电时长的刷新频率设置为120赫兹，在充电时，不会出现充电不足或错充的情况，从而提高了显示面板的充电效率。

技术领域

本申请涉及充电技术领域，特别涉及一种充电测试方法以及充电测试装置。

背景技术

随着显示面板行业的发展，产品尺寸增大，刷新频率提高成为显示面板的发展趋势。其中刷新频率为120赫兹的显示面板因为固有尺寸的增大，经常导致其在充电过程中存在充电不足或者错充的情况。目前，一般选取刷新频率为60赫兹的显示面板进行模拟充电时间。在模拟充电过程中，刷新频率为60赫兹的显示面板一般选取卡控错充的方式进行充电。但是若刷新频率为120赫兹的显示面板在模拟充电时也选取卡控错充的方式进行充电，那么就会导致刷新频率为120赫兹的显示面板出现充电不足或者严重错充的情况。

发明内容

本申请实施例提供一种充电测试方法以及充电测试装置，可以避免刷新频率为120赫兹的显示面板在充电过程中出现充电不足或者严重错充的情况。

第一方面，本申请实施例提供了一种充电测试方法，应用于显示面板，所述方法包括：

获取所述显示面板处于充电过程中的第一充电电压，其中所述第一充电电压为所述充电过程中的最大充电电压；

获取预设馈通电压；

根据所述第一充电电压与所述预设馈通电压，获取第二充电电压；

根据所述第二充电电压以及预设对应关系，获取第一充电时长，其中所述预设对应关系包括第二充电电压与第一充电时长之间的对应关系。

在本申请实施例提供的充电测试方法中，所述根据所述第二充电电压以及预设对应关系，获取第一充电时长的步骤包括：

获取所述显示面板的第一电阻值；

根据所述第一电阻值以及预设电阻补偿值获取第二电阻值；

根据所述第二充电电压、所述第二电阻值以及预设对应关系，获取第一充电时长，其中所述预设对应关系包括第二充电电压、第二电阻值与第一充电时长之间的对应关系。

在本申请实施例提供的充电测试方法中，所述根据所述第二充电电压以及预设对应关系，获取第一充电时长的步骤包括：

计算所述第一充电电压与所述第二充电电压之间的比值；

根据所述第二充电电压、所述比值以及预设对应关系，获取第一充电时长，所述预设对应关系包括第二充电电压、比值与第一充电时长之间的对应关系。

在本申请实施例提供的充电测试方法中，所述根据所述第二充电电压、所述比值以及预设对应关系，获取第一充电时长的步骤包括：

获取所述显示面板的第一电阻值；

根据所述第一电阻值以及预设电阻补偿值，获取第二电阻值；

根据所述第二充电电压、所述比值、所述第二电阻值以及预设对应关系，获取第一充电时长，其中，所述预设对应关系包括第二充电电压、比值、第二电阻值与第一充电时长之间的对应关系。

在本申请实施例提供的充电测试方法中，所述充电过程包括恒压充电阶段，所述第一充电电压为所述恒压充电阶段的充电电压，所述预设对应关系包括第一子预设对应关系以及第二子预设对应关系，所述根据所述第二充电电压以及预设对应关系，获取第一充电时长的步骤包括：