[发明专利]一种在低温真空状态下进行中子照射试验的装置在审

专利信息
申请号: 201811536161.7 申请日: 2018-12-14
公开(公告)号: CN109655471A 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: 郭建文;李晓彦;李荣泳;叶国良;叶俊良 申请(专利权)人: 东莞理工学院
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 罗晓林;杨桂洋
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种在低温真空状态下进行中子照射试验的装置,包括底座,所述底座上安装有旋转基座,旋转基座内设有旋转台,旋转基座外壁装设有带动旋转台转动的电机,旋转台上装设有平移机构,平移机构上装设有磁铁机构,磁铁机构一侧装设有恒低温装置,恒低温装置上具有试件测试端,该试件测试端的外围从内到外依次装设有热辐射屏蔽罩、真空罩,热辐射屏蔽罩与真空罩之间具有间隙。本发明操作方便,能够进行灵活的调整,同时能提供低温真空和强磁场环境,适用性强。
搜索关键词: 低温真空 旋转基座 热辐射屏蔽 磁铁机构 平移机构 试件测试 中子照射 真空罩 底座 强磁场环境 带动旋转 低温装置 恒低温 灵活的 旋转台 试验 外壁 装设 转动 电机 外围
【主权项】:
1.一种在低温真空状态下进行中子照射试验的装置,包括底座,其特征在于,所述底座上安装有旋转基座,旋转基座内设有旋转台,旋转基座外壁装设有带动旋转台转动的电机,旋转台上装设有平移机构,平移机构上装设有磁铁机构,磁铁机构一侧装设有恒低温装置,恒低温装置上具有试件测试端,该试件测试端的外围从内到外依次装设有热辐射屏蔽罩、真空罩,热辐射屏蔽罩与真空罩之间具有间隙。
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