[发明专利]一种在低温真空状态下进行中子照射试验的装置

说明书

本发明公开了一种在低温真空状态下进行中子照射试验的装置，包括底座，所述底座上安装有旋转基座，旋转基座内设有旋转台，旋转基座外壁装设有带动旋转台转动的电机,旋转台上装设有平移机构，平移机构上装设有磁铁机构，磁铁机构一侧装设有恒低温装置，恒低温装置上具有试件测试端，该试件测试端的外围从内到外依次装设有热辐射屏蔽罩、真空罩，热辐射屏蔽罩与真空罩之间具有间隙。本发明操作方便，能够进行灵活的调整，同时能提供低温真空和强磁场环境，适用性强。

技术领域

本发明属于中子试验设备技术领域，具体地说是一种在低温真空状态下进行中子照射试验的装置。

背景技术

中子辐射照射试件试验，可以用于研究高速中子流轰击试件后的一些物理变化，可以用于新物质的探索研究。为实现高速中子流轰击试件，需要把试件设置在真空环境中，并按实际试验的需要，在试验过程中，需要维持持续的低温环境。另外，还需要根据情况，提供一定的磁场磁力，从而为试件的正常测试提供各种试验环境。

目前的试验装置，操作相对复杂，而且难以维持在一个稳定的状态供试件测试，试验结果无法得到有效的保障。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种在低温真空状态下进行中子照射试验的装置，操作方便，能够进行灵活的调整，同时能提供低温真空和强磁场环境，适用性强。

为了解决上述技术问题，本发明采取以下技术方案：

一种在低温真空状态下进行中子照射试验的装置，包括底座，所述底座上安装有旋转基座，旋转基座内设有旋转台，旋转基座外壁装设有带动旋转台转动的电机,旋转台上装设有平移机构，平移机构上装设有磁铁机构，磁铁机构一侧装设有恒低温装置，恒低温装置上具有试件测试端，该试件测试端的外围从内到外依次装设有热辐射屏蔽罩、真空罩，热辐射屏蔽罩与真空罩之间具有间隙。

所述底座包括固定板和调节板，调节板通过承载螺栓与固定板锁紧连接，调节板的四个侧边分别设置有调节块，该调节块上设有调节螺栓，该调节螺栓抵顶锁紧着旋转基座。

所述固定板上还设有调节螺杆。

所述平移机构包括步进电机和平移板，平移板与步进电机的驱动轴连接。

所述平移机构共设置两个，其中一个平移机构朝向X方向设置，另外一个平移机构朝向Y方向设置。

磁铁机构包括支撑架和设在支撑架内且正对着排布的上磁铁、下磁铁，上磁铁和下磁铁之间预留有供恒低温装置的试件测试端插入的间隙，支撑架底面装在平移机构的平移板上，恒低温装置装在支撑架底面。

所述上磁铁和下磁铁均为铷磁铁。

所述上磁铁通过调节杆与支撑架连接，调节杆上端穿过支撑架并且装接有调节手轮。

所述支撑架底面设有垂直方向转动的电动旋转台，该电动旋转台上装设有支撑板，支撑板上设有水平方向转动的带手轮的手轮旋转座，恒低温装置从手轮旋转座中穿过安装。

所述支撑架底面还设有用于阻挡支撑板转动范围的限位块。

本发明操作方便，能够进行灵活的调整，同时能提供低温真空和强磁场环境，适用性强。

附图说明

附图1为本发明立体结构示意图。

附图2为本发明另一视角的立体结构示意图；

附图3为本发明中测试终端的装配剖开示意图。

具体实施方式

为能进一步了解本发明的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细描述。