[发明专利]一种激光振镜精度校正方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201811518808.3 | 申请日： | 2018-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN109732228B | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 张喆;艾辉;李志刚 | 申请（专利权）人： | 武汉帝尔激光科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B23K26/70 | 分类号： | B23K26/70 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 杨立;徐苏明 |
| 地址： | 430223 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种激光振镜精度校正方法、装置及系统，该方法包括如下步骤：根据预设的标准图形控制激光束经过激光振镜后在工件上雕刻生成多个标识点；根据获取的包括所述标识点的图像确定包括所有所述标识点的标识图形；比对所述标准图形和所述标识图形，根据比对结果确定校正参数；根据所述校正参数更新激光振镜的校正文档。本发明提供的技术方案可以提高激光振镜的校正效率，并保证校正精度，改善激光加工的全流程工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 精度 校正 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种激光振镜精度校正方法，其特征在于，包括如下步骤：根据预设的标准图形控制激光束经过激光振镜后在工件上雕刻生成多个标识点；根据获取的包括所述标识点的图像确定包括所有所述标识点的标识图形；比对所述标准图形和所述标识图形，根据比对结果确定校正参数；根据所述校正参数更新激光振镜的校正文档。
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