[发明专利]一种激光振镜精度校正方法、装置及系统有效
申请号: | 201811518808.3 | 申请日: | 2018-12-12 |
公开(公告)号: | CN109732228B | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 张喆;艾辉;李志刚 | 申请(专利权)人: | 武汉帝尔激光科技股份有限公司 |
主分类号: | B23K26/70 | 分类号: | B23K26/70 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立;徐苏明 |
地址: | 430223 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 精度 校正 方法 装置 系统 | ||
1.一种激光振镜精度校正方法,其特征在于,包括如下步骤:
根据预设的标准图形控制激光束经过激光振镜后在工件上雕刻生成多个标识点;
根据获取的包括所述标识点的图像确定包括所有所述标识点的标识图形;
比对所述标准图形和所述标识图形,根据比对结果确定校正参数;
根据所述校正参数更新激光振镜的校正文档;
所述标准图形为四边形,所述标识点分别对应所述四边形的四个顶点,所述根据获取的包括所述标识点的图像确定包括所有所述标识点的标识图形的具体实现包括:
根据包括所述标识点的图像分别确定四个所述标识点的坐标;并将四个所述标识点依次连接,获得四边形形式的所述标识图形;
所述校正参数包括中心点偏移、胀缩比和角度偏转中的至少一者;
所述确定校正参数的过程包括:
确定所述标准图形的中心点坐标以及所述标识图形的两条对角线交点的交点坐标,将所述中心点坐标与所述交点坐标的差值作为所述中心点偏移;
根据所述标识点的所述坐标确定所述标识图形中两条标识邻边的标识边长,确定与所述标识图形中所述两条标识邻边位置对应的所述标准图形中的两条标准邻边,将所述标识边长与所述标准邻边的标准边长的商值作为所述胀缩比;
基于反正切函数,根据四个所述标识点的坐标分别确定所述标识图形相对于所述标准图形的四个顶角的顶角偏转,将四个所述顶角偏转的平均值作为所述角度偏转。
2.一种激光振镜精度校正装置,其特征在于,包括:
生成模块,用于根据预设的标准图形控制激光束经过激光振镜后在工件上雕刻生成多个标识点;
第一处理模块,用于根据获取的包括所述标识点的图像确定包括所有所述标识点的标识图形;
第二处理模块,用于比对所述标准图形和所述标识图形,根据比对结果确定校正参数;
更新模块,用于根据所述校正参数更新激光振镜的校正文档;
所述标准图形为四边形,所述标识点分别对应所述四边形的四个顶点,所述第一处理模块具体用于:
根据包括所述标识点的图像分别确定四个所述标识点的坐标;并将四个所述标识点依次连接,获得四边形形式的所述标识图形;
所述校正参数包括中心点偏移、胀缩比和角度偏转中的至少一者;
所述第二处理模块具体用于:
确定所述标准图形的中心点坐标以及所述标识图形的两条对角线交点的交点坐标,将所述中心点坐标与所述交点坐标的差值作为所述中心点偏移;
根据所述标识点的所述坐标确定所述标识图形中两条标识邻边的标识边长,确定与所述标识图形中所述两条标识邻边位置对应的所述标准图形中的两条标准邻边,将所述标识边长与所述标准邻边的标准边长的商值作为所述胀缩比;
基于反正切函数,根据四个所述标识点的坐标分别确定所述标识图形相对于所述标准图形的四个顶角的顶角偏转,将四个所述顶角偏转的平均值作为所述角度偏转。
3.一种激光振镜精度校正装置,其特征在于,包括存储器和处理器;
所述存储器,用于存储计算机程序;
所述处理器,用于当执行所述计算机程序时,实现如权利要求1所述的激光振镜精度校正方法。
4.一种激光振镜精度校正系统,其特征在于,包括激光振镜、用于获取包括标识点的图像的至少一个成像装置以及如权利要求3所述的激光振镜精度校正装置,所述激光振镜精度校正装置分别与所述激光振镜和至少一个所述成像装置电连接。
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