[发明专利]检测承接座之异常端子的方法在审
| 申请号： | 201811430781.2 | 申请日： | 2018-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN109580194A | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 董明君 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01M13/00 | 分类号： | G01M13/00 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种检测承接座之异常端子的方法，承接座包括多个环形区域，各环形区域设置有多个用于承接基板的端子，包括：放置基板于承接座的多个端子上。接着，测量多个端子承接基板时的受力值。然后,比较同一个环形区域内的多个端子的受力值，以检测得到对应于各环形区域的异常端子。 | ||
| 搜索关键词： | 环形区域 承接座 异常端子 承接基板 受力 种检测 检测 基板 测量 | ||
【主权项】：
1.一种检测承接座之异常端子的方法，所述承接座包括多个环形区域，各所述环形区域设置有多个用于承接基板的端子，其特征在于，所述方法包括：放置所述基板于所述承接座的多个端子上；测量所述多个端子承接所述基板时的受力值；以及比较同一个所述环形区域内的所述多个端子的受力值，以检测得到对应于各所述环形区域的所述异常端子。
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