[发明专利]检测承接座之异常端子的方法在审
| 申请号： | 201811430781.2 | 申请日： | 2018-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN109580194A | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 董明君 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01M13/00 | 分类号： | G01M13/00 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 环形区域 承接座 异常端子 承接基板 受力 种检测 检测 基板 测量 | ||
【权利要求书】：
1.一种检测承接座之异常端子的方法，所述承接座包括多个环形区域，各所述环形区域设置有多个用于承接基板的端子，其特征在于，所述方法包括：
放置所述基板于所述承接座的多个端子上；
测量所述多个端子承接所述基板时的受力值；以及
比较同一个所述环形区域内的所述多个端子的受力值，以检测得到对应于各所述环形区域的所述异常端子。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述比较同一个所述环形区域内的所述多个端子的受力值的步骤，包括：
将二个以上具有相同受力值的所述端子决定为正常端子；以及
将具有不同于所述相同受力值的所述端子决定为所述异常端子。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述比较同一个所述环形区域内的所述多个端子的受力值的步骤，包括：
计算所述多个端子的受力值总和的平均值；以及
比较各所述端子的受力值与所述平均值的差异程度，以检测得到所述异常端子。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述多个端子均匀布设于所述承接座上。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述多个环形区域彼此间隔排列于所述承接座上。
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述环形区域的形状为圆形、矩形、三角形的其中一种。
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述基板为玻璃基板。
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