[发明专利]柔性显示面板测试样品及其制作方法、缺陷分析方法有效

专利信息
申请号: 201811397023.5 申请日: 2018-11-22
公开(公告)号: CN109524574B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 薛孝忠;杜聪聪 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L51/56 分类号: H01L51/56;H01L21/66;H01L51/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 刘伟;张博
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种柔性显示面板测试样品及其制作方法、缺陷分析方法,属于显示技术领域。本发明的技术方案能够提高柔性OLED产品缺陷分析的精度。其中,柔性显示面板测试样品的制作方法,包括:在柔性显示面板的测试区域的薄膜封装层上形成厚度小于阈值的金属层;确定测试区域中缺陷所在位置,利用激光在所述金属层上形成对应所述缺陷的缺陷位置标记,所述缺陷在所述金属层上的正投影位于所述缺陷位置标记限定出的区域内。本发明的技术方案用于对柔性OLED产品进行缺陷分析。
搜索关键词: 柔性 显示 面板 测试 样品 及其 制作方法 缺陷 分析 方法
【主权项】:
1.一种柔性显示面板测试样品的制作方法,其特征在于,包括:在柔性显示面板的测试区域的薄膜封装层上形成厚度小于阈值的金属层;确定测试区域中缺陷所在位置,利用激光在所述金属层上形成对应所述缺陷的缺陷位置标记,所述缺陷在所述金属层上的正投影位于所述缺陷位置标记限定出的区域内。
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