[发明专利]存储单元的制备方法及其存储单元有效
| 申请号: | 201811360648.4 | 申请日: | 2018-11-15 |
| 公开(公告)号: | CN109524403B | 公开(公告)日: | 2020-07-21 |
| 发明(设计)人: | 郭猛 | 申请(专利权)人: | 安徽省华腾农业科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115 |
| 代理公司: | 东营双桥专利代理有限责任公司 37107 | 代理人: | 刘东亮 |
| 地址: | 234000 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 公开了一种存储单元的制备方法及其存储单元,方法包括提供基底,基底在预定压力下外延多个间隔排列的鳍片层,沿着鳍片层的排列方向在基底上交替地层叠氮化硅层和锗化硅层,且最上方的氮化硅层形成绝缘层,沿着鳍片层的排列方向在绝缘层、氮化硅层、锗化硅层和基底中形成第一槽道,在第一槽道侧壁上外延形成锗化硅隔层,在锗化硅隔层之间电化学镀膜形成金属层,湿法刻蚀去除锗化硅隔层以形成气隙,第二槽道侧壁上形成存储层,去除所述锗化硅层且经由导电材料填充形成预定导电图像层,在鳍片层上方的绝缘层、氮化硅层与预定导电图像层上打孔形成连接所述预定导电图案层的端子孔,金属端子形成于所述端子孔中。 | ||
| 搜索关键词: | 存储 单元 制备 方法 及其 | ||
【主权项】:
1.一种存储单元的制备方法,其包括如下步骤:提供基底,所述基底在预定压力下外延多个间隔排列的鳍片层,每个鳍片层具有第一高度,沿着所述鳍片层的排列方向在所述基底上交替地层叠氮化硅层和锗化硅层,且最上方的氮化硅层形成绝缘层,其中,锗化硅层经由印刷形成预定图像,沿着所述鳍片层的排列方向在绝缘层、氮化硅层、锗化硅层和基底中形成第一槽道,在所述第一槽道侧壁上外延形成锗化硅隔层,在所述锗化硅隔层之间电化学镀膜形成金属层,湿法刻蚀去除所述锗化硅隔层以形成气隙,在所述锗鳍片层之外的绝缘层、氮化硅层和锗化硅层上形成多个第二槽道,所述第二槽道侧壁上形成存储层,去除所述锗化硅层且经由导电材料填充形成预定导电图像层,在鳍片层上方的绝缘层、氮化硅层与预定导电图像层上打孔形成连接所述预定导电图案层的端子孔,金属端子形成于所述端子孔中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安徽省华腾农业科技有限公司,未经安徽省华腾农业科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811360648.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:采用PMOS反熔断机制的一次可编程存储单元
- 下一篇:半导体存储装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





