[发明专利]主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法、装置及系统在审

专利信息
申请号: 201811339990.6 申请日: 2018-11-12
公开(公告)号: CN109406899A 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: 葛欣宏;李旭;张鹰 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 130033 吉林省长春市*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明实施例公开了一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统、方法、装置、设备及计算机可读存储介质。其中,系统包括电磁信号产生装置、金属箱体及电磁屏蔽效能计算装置。电磁信号产生装置产生预设强度电磁波信号,并将电磁波信号辐照至金属箱体的窗口处;金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构,光学玻璃上设置待测透光屏蔽薄膜;透光屏蔽薄膜的面积不小于光学玻璃的面积以覆盖光学玻璃;电磁屏蔽效能计算装置用于采集经待测透光屏蔽薄膜屏蔽后金属箱体内的电磁波信号强度,并计算其与不经待测透光屏蔽薄膜的金属箱体内电磁波信号强度的比值,作为待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。本申请实现了对透光屏蔽薄膜屏蔽效能的准确测试。
搜索关键词: 屏蔽薄膜 透光 光学玻璃 金属箱体 电磁波信号 电磁屏蔽效能 产生装置 电磁信号 计算装置 屏蔽效能 主动式 计算机可读存储介质 屏蔽效能测试系统 全封闭箱体结构 屏蔽效能测试 装置及系统 辐照 窗口处 屏蔽 预设 采集 测试 覆盖 申请
【主权项】:
1.一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统,其特征在于,包括电磁信号产生装置、金属箱体及电磁屏蔽效能计算装置;所述电磁信号产生装置用于产生预设强度电磁波信号,并将所述电磁波信号辐照至所述金属箱体的窗口处;所述金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构,所述光学玻璃上设置待测透光屏蔽薄膜;所述待测透光屏蔽薄膜的面积不小于所述光学玻璃的面积,以覆盖所述光学玻璃;所述电磁屏蔽效能计算装置用于采集经所述待测透光屏蔽薄膜屏蔽后所述金属箱体内的电磁波信号强度,并计算其与不经所述待测透光屏蔽薄膜的所述金属箱体内电磁波信号强度的比值,作为所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。
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